FEI(美國)

FEI

美國FEI www.fei.com FEI是一家生產、經營多種科學儀器的業內企業。其產品包括電子和離子束顯微鏡，以及可滿足多個行業納米尺度應用的相關產品，這些行業橫跨：工業和理論材料研究、生命科學、半導體、數據存儲、自然資源等等諸多領域。憑借過去60年的技術創新歷史和業內領導地位，FEI成為了透射電子顯微鏡(TEM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、整合了SEM與聚焦離子束(FIB)的DualBeam ™儀器和用于精密高速切割與加工的專用聚焦離子束儀器的性能標準。FEI成像系統在三維表征、分析和修改/原型設計領域實現了亞埃（埃：十分之一納米）級分辨率。FEINanoPorts在東京、美國俄勒岡州波特蘭、荷蘭埃因霍溫和中國上海均有設點，它們都是卓越中心。在這里，眾多科學家、研究者以及工程師都可在FEI應用專家的直接幫助下體驗顯微分辨率。本公司有近1800名員工，已在全球超過50個國家或地區開展了銷售和服務業務。FEI上海總辦事處中國上海市浦東碧波路690號張江微電子港8號樓102室201203電話：21.50278805傳真：21.502782091949年飛利浦電子光學發布了臺商用透射電子顯微鏡1958年飛利浦電子光學突破10埃的透射電鏡分辨率(EM200)1971年FEI成立，向用戶提供高純、單一取向晶體作為場發射研究的材料1975年飛利浦電子光學發布EM400透射電子顯微鏡，成為現代透射電鏡發展的基礎1981年FEI發明液體金屬離子源（LMI），成為聚焦離子束（FIB）設備開發的基礎1982年FEI只聚焦離子束鏡筒交貨1983年FEI交付個靜電場聚焦電子鏡筒Micrion成立,致力于開發掩膜修復用途的聚焦離子束系統1985年Mi