Nanovea(美國)

Nanovea

美國Nanoveawww.nanovea.comNanovea公司是設(shè)計與制造納米、微觀和宏觀級的輪廓儀，力學測試儀以及摩擦計。Nanovea的儀器能夠執(zhí)行刮痕測試，壓痕硬度測試，摩擦與磨損測試以及三維非接觸式計量測試。Nanovea公司在材料研發(fā)用的儀器行業(yè)里已有十幾年的經(jīng)驗，在2004年正式推出“Nanovea”的品牌。Nanovea公司總部設(shè)于美國加利福尼亞。Nano vea儀器廣泛應(yīng)用于世界各地的高校和工業(yè)領(lǐng)域，包括化妝品，生物技術(shù)，醫(yī)療器械，微電子，半導體，汽車和航空航天等各行各業(yè)。美國NANOVEA公司是一家全球公認的在微納米尺度上的光學表面輪廓測量技術(shù)的，生產(chǎn)的光學輪廓儀是目前國際上用在科學研究和工業(yè)領(lǐng)域表面輪廓測量設(shè)備，該公司在光學設(shè)計、精密機械和科學軟件算法方面，擁有長期不斷發(fā)展的專利技術(shù)，由于這些專門技術(shù)的應(yīng)用，NANOVEA為生產(chǎn)和質(zhì)量控制的研究和發(fā)展提供精密準確的全方位解決方案。NANOVEA的表面測量系統(tǒng)適用于研發(fā)和生產(chǎn)過程控制中的定性和定量測量，其核心部件達到納米尺度的創(chuàng)新的光學設(shè)計，其強大且友好的軟件控制使所需獲得的數(shù)據(jù)不僅速度快，而且精度高，并提供了多種不同的表面分析方法，與系統(tǒng)匹配的軟件包含參數(shù)設(shè)定(如掃描尺寸、線數(shù)、步進、轉(zhuǎn)換臺速度、數(shù)據(jù)采樣速度)和數(shù)據(jù)后處理功能(如Abbott-Firestone曲線、快速傅立葉變換、自相關(guān)功能、三維成像、二維切片成像等)，可以定量地測量表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，諸如晶粒、膜厚、孔洞深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等，并計算關(guān)鍵部位的面積和體積等參數(shù)。Nanoveaistheresultof16yearsexperienceprovidingprofessionalsolutionsandexperiencedservicethroughoutthefieldsofnano/micro/macroprofilometry,mechanical,tribology,imagingandotherrelatedfieldsofmaterialsresearch&