*平行平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。*平行平晶具有高的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規和千分表等測量面平面度、平面平行度。產品規格：每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組測量面上平面度偏差： <0.1μm平面度局部偏差： 　  >0.03μm  平行平晶技術要求組別兩工作面的平行度工作面的平面度2/3d范圍內的平面度I、II0.60.10.05III0.80.10.05IV1.00.10.05組Ⅰ平行平晶0－25mm4塊/組組Ⅱ平行平晶25－50mm4塊/組組Ⅲ平行平晶50－75mm4塊/組組Ⅳ平行平晶75－100mm4塊/組平行平晶尺寸系列表組號0－2525－5050－7575－100115.00，15.1215.25，15.3940.00，40.1240.25，40.3765.00，65.1265.25，65.3790.00，90.1290.25，90.37215.12，15.2515.37，15.5040.12，40.2540.37，40.5065.12，65.2565.37，65.5090.12，90.2590.37，90.50315.25，15.3715.50，15.6240.25，40.3740.50，40.6265.25，65.3765.50，65.6290.25，90.3790.50，90.62415.37，15.5015.62，15.7540.37，40.5040.62，40.7565.37，65.5065.62，65.7590.37，90.5090.62，90.75515.50，15.6215.75，15.8740.50，40.6240.75，40.8765.50，65.6265.75，65.8790.50，90.6290.75，90.87615.62，15.7515.87，16.0040.62，40.7540.87，41.0065.62，65.7565.87，66.0090.62，90.7590.87，91.00以上是平行平晶 光學平晶75-100 組四的詳細信息，如果您對平行平晶 光學平晶75-100 組四的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取平行平晶 光學平晶75-100 組四的新信息。