| 類型 | 微分干涉工業(yè)顯微鏡 | 品牌 | CEWEI |
| 型號 | CW-DIC95/45 |
微分干涉工業(yè)顯微鏡
用途: DIC95/45落射微分干涉工業(yè)顯微鏡由日本W(wǎng)DK公司潛發(fā)，件經(jīng)測維工廠精心組裝而成，其光學(xué)品質(zhì)國外同功能臺式機(jī)水平，在技術(shù)上填補(bǔ)了國內(nèi)這方面的空缺，又因為是整系列奉獻(xiàn)所以不用再東拼西湊的組合成套，具有很的兼容性。DIC95/45落射微分干涉工業(yè)顯微鏡屬于遠(yuǎn)和有限遠(yuǎn)兩個光學(xué)系統(tǒng)，除選配的物鏡外，其他的功能質(zhì)量都是之作，光源可選LED和光纖冷光源，主要是為了適合不同預(yù)算的客戶挑選，件和的光學(xué)系統(tǒng)均有部件組裝由國外技術(shù)工程師把關(guān)調(diào)試和技術(shù)控制，整套DIC系統(tǒng) ，物鏡上方的DIC棱鏡可作水平和上下微調(diào)，兩個方向的線偏振光分合所形成的浮雕圖像，的立體感，適合于芯片封裝后的品檢很微小的突起，細(xì)微劃痕的觀察，測量，這在通常光學(xué)系統(tǒng)是無法觀察的。也是國內(nèi)款國際新科技落射微分干涉工業(yè)顯微鏡。
微分干涉工業(yè)顯微鏡
物鏡上方使用設(shè)置了的DIC棱鏡，照明光橫（側(cè)）方向挪動的2個光線分離試料照明。能立體地觀察根據(jù)試料直接反射了的2個光線差的陰暗，發(fā)生觀 察很難的小的等級差別。光路差成為顏色的變化，微小等級差別觀察更加靈敏度很好的能觀察。用通常的光學(xué)系適合難觀察硅片的細(xì)微傷的檢驗，基礎(chǔ)的壓按部分 的凹凸觀察。
