相位差量測檢查機 RETS 100_其他光學儀器

藍龍香港有限公司

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可更加的量測微小相位差（0.1nm～）。

適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角（光學軸）或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。

檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的高相位差量測。

可選配傾斜式、旋轉式量測平臺，評估三次元折射率參數解析等視野角特性。

配合量測樣品，自由架構量測平臺。

? 測量項目：

相位差的波長落差

液晶層間隙（Cell gap）

配向角（光學軸）

方位角、橢圓率、偏光度

穿透率

色度

三次元折射率參數

? 應用范圍：

■ 光學薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料

■ 液晶層
?穿透、半穿透型液晶層（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶）
?反射型液晶層（TN,STN）

? 規格樣式：

樣品對應尺寸		小20×20mm - 100×100mm （厚度 : 2.5mm以下）
相位差量測范圍	旋轉檢光法	約 0nm ～數μm
	光干涉法	約450nm ～數μm
檢測器		分光光譜儀
量測波長范圍		400 ～ 800nm
量測口徑		φ1, φ2, φ5, φ10mm
光學系統		偏光光學系統消光率10-5的方解石偏光鏡（Gran-tomson prism）自動旋轉（角度0.1°）自動裝卸裝置
量測用光原		100W鹵素燈
電源供應器規格		AC100V±10V、1.5kVA
尺寸、重量		540（W）×580（D）×1000（H） mm, 約60kg