-專為覆膜圖的測量而設(shè)計

-垂直照射, 透射測量

－Value和Universal均可通過影像測量和接觸測頭T E S ASTAR-p 或 TESA STAR-mp進行影像和接觸測量。

－Value可以用TESA STAR-m或TESA STAR I M8可旋轉(zhuǎn)角度測頭實現(xiàn)100%接觸測量。

－Universal可以配備激光測頭，完成多種方式的掃描，掃描速度為500點/秒。

-500毫米的旋轉(zhuǎn)投影屏做了消光處理, 交叉讀數(shù)線有30°,60°, 和 90°三種, 并帶有4個壓圖夾

-內(nèi)置的數(shù)字式分度規(guī)以度分秒或度的形式顯示投影屏的旋轉(zhuǎn)角度.可以或相對顯示.

-照明光帶有綠色濾光器, 增強圖像的對比度,使得測量更輕松并減少了操作者的人為誤差.

-可調(diào)整的光纖輔助照明可對局部補光以達到完美的輪廓顯現(xiàn).

-系統(tǒng)帶有<省電>模式, 當儀器持續(xù)幾分鐘不使用時會自動關(guān)斷照明燈,使得燈泡壽命延長5倍.

-配備兩個物鏡支架,可快速安裝10x到100x的物鏡

-測量臺可垂直和橫向移動, 并有分辨率達0.001mm的光柵系統(tǒng)記錄并顯示其位置信息.

-X-軸配有快速移動裝置,松開時可快速移動工作臺.

-旋轉(zhuǎn)手柄同時適合習(xí)慣于左撇或右撇操作者,非常人性化.

-配備用于強光環(huán)境的遮光簾

-工作臺承重10公斤.

技術(shù)參數(shù)：

測量范圍

X=400mm

Y=500mm

Z可以達到300mm(取決于機器的配置)

高

光學(xué)（um）L為mm

- E2（X/Y）=2 + 5L/1000

- E1（Z）=3 + 8L/1000接觸測頭（um）L為mm

- E3(X/Y/Z)=2.5 + 6L/1000

- E2(X/Y) =2.2 + 5L/1000

- E1(Z) =2 + 6L/1000

－新型應(yīng)用廣泛的非接觸、放大測量,為電子、模具、醫(yī)療等行業(yè)提供了先進

實用的測量方法和手段。。

－PCDMIS影像和接觸-企業(yè)廣泛應(yīng)用的計量軟件。

－無與倫比的性價比和質(zhì)量保證。