- 品牌/商標(biāo)：上海物光
- 企業(yè)類(lèi)型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：上海
SGW X-4A物光SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀適用于測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。
技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示小值：0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×
SGW X-4A顯微熔點(diǎn)儀如果您對(duì)本產(chǎn)品價(jià)格、圖片、參數(shù)、售后等有任何疑問(wèn)歡迎致電咨詢(xún)！
技術(shù)參數(shù)：
熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性：±1℃ （在＜200℃ 時(shí)）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)）
溫度顯示小值：0.1℃
熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù) 40×
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