chroma6000開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于AC/DC Power Supply及 DC/DC Converter之測(cè)試應(yīng)用，41項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能擴(kuò)充性強(qiáng)，可輕易整合其它具標(biāo)準(zhǔn)化介面之測(cè)試儀器，測(cè)試速度快且效率高，較傳統(tǒng)ATS速度快約3-4倍，開放式系統(tǒng)平臺(tái)，使用者可依需求自行編輯測(cè)試步驟，標(biāo)準(zhǔn)化儀控介面語(yǔ)言及簡(jiǎn)單易學(xué)圖形化操作環(huán)境(Windows 98/NT/2000)以上提供報(bào)表設(shè)計(jì)、統(tǒng)計(jì)分析能力，由于開關(guān)電源應(yīng)用廣、性能要求嚴(yán)格，尤其對(duì)于時(shí)序、動(dòng)態(tài)及暫態(tài)反應(yīng)的測(cè)試上，一般傳統(tǒng)ATE已經(jīng)無(wú)法充份符合現(xiàn)代的需求，Chroma model 6000開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，就是針對(duì)傳統(tǒng)ATE的缺陷及各種開關(guān)電源實(shí)際應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，符合研發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)檢測(cè)、品質(zhì)控制等之應(yīng)用。

本產(chǎn)品整合了各項(xiàng) Chroma自行開發(fā)的先進(jìn)儀器，如開關(guān)電源分析儀、擴(kuò)充測(cè)試單元及交直流電源供應(yīng)器，輔以視窗式系統(tǒng)整合控制軟體，成為效率高、穩(wěn)定性強(qiáng)及高度之自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，而其主要特性如下:

效率高 UL type=disc>
采用同步平行之測(cè)試架構(gòu)較一般傳統(tǒng)ATS速度快約3-4倍
對(duì)各組輸出做同步平行測(cè)試，比一般傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)快約3倍
一般標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試程式，包含DC Voltage,OVP, OCP等25項(xiàng)
系統(tǒng)穩(wěn)定度高 UL type=disc>
Chroma自行研發(fā)之交流電源供應(yīng)器，Stabilit和Reliability，Load Regulation小于0.02%電子負(fù)載由Mosfet構(gòu)成，各種參數(shù)和電流大小、Slew Rate、周期、起動(dòng)點(diǎn)等全部可由使用者根據(jù)實(shí)際應(yīng)用條件來(lái)設(shè)定。
系統(tǒng)測(cè)試由各組開關(guān)電源分析儀和擴(kuò)充量測(cè)單元對(duì)各組輸出做同步測(cè)試，結(jié)果非常穩(wěn)定。
準(zhǔn)確度高 UL type=disc>
可以完全根據(jù)S M P S 應(yīng)用特性而模擬電流負(fù)載變化的真正狀態(tài)，確保測(cè)試結(jié)果的可信度。
百分之百模擬各種輸入狀態(tài)，如開機(jī)角度控制、輸入電源干擾之各種現(xiàn)象，提供正確之測(cè)試狀況。
DC電壓，使用14 Bit ADC，測(cè)到小數(shù)點(diǎn)第三位，準(zhǔn)確度0.02%+0.02%F.S.。
NOISE電壓、Differential Mode輸入，并有8段Low Pass Filter供選擇使用，解析度達(dá)1% + 1%F.S.。
時(shí)間 : 使用24 Bit Counter，解析度1uS，準(zhǔn)確度10μs。
擴(kuò)充性強(qiáng) UL type=disc>
AC/DC，DC/DC可由同一測(cè)試程式完成，硬體不須更動(dòng)，Modular系統(tǒng)架構(gòu)，具靈活的擴(kuò)充性。
輸出電壓可測(cè)到200V，負(fù)載電流可并聯(lián)擴(kuò)充，動(dòng)態(tài)負(fù)載達(dá)125kHz等。
系統(tǒng)可測(cè)到12組輸出。
系統(tǒng)軟體可擴(kuò)充至AC/AC，DC/DC等各種SPS的測(cè)試。
透過Built-in的6組Relay和16Bit的TTL控制信號(hào)可與其他儀器設(shè)備連線作業(yè)。
透過10組Ext Measurement，可測(cè)至PCB內(nèi)的AC和DC電壓模擬In-Circuit Test。
統(tǒng)計(jì)分析能力 UL type=disc>
測(cè)試結(jié)果統(tǒng)計(jì)分析能力，并產(chǎn)生分析圖表，以即時(shí)提供制程偏差警告。
系統(tǒng)程式人性化，操作簡(jiǎn)單易學(xué)。
組立式系統(tǒng)，維修容易。
伴隨著資訊、通信產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，促使制造商以推動(dòng)生產(chǎn)線自動(dòng)化大量生產(chǎn)，以降低生產(chǎn)成本，以厚實(shí)其競(jìng)爭(zhēng)力來(lái)因應(yīng)開關(guān)電源的需求量大幅成長(zhǎng)。Chroma 6000憑藉其優(yōu)異性能及測(cè)試速度快的優(yōu)點(diǎn)，協(xié)助制造業(yè)者達(dá)成競(jìng)爭(zhēng)力的目標(biāo)。
綜合測(cè)試項(xiàng)目
    1. 直流輸出電壓測(cè)試
    2. 峰對(duì)峰值雜訊測(cè)試
    3. 有效值雜訊測(cè)試
    4. 動(dòng)態(tài)反應(yīng)(范圍125kHz)
    5. 輸入穩(wěn)定度測(cè)試
    6. 負(fù)載穩(wěn)定度測(cè)試
    7. 交越穩(wěn)定度測(cè)試
    8. 總合穩(wěn)定度測(cè)試
    9. 總合穩(wěn)定度測(cè)試
   10. 開機(jī)時(shí)間
   11. 上升時(shí)間
   12. 下降時(shí)間
   13. 關(guān)機(jī)時(shí)間
   14. 輸出穩(wěn)定時(shí)間測(cè)試
   15. 過沖電壓測(cè)試
   16. 電源備妥信號(hào)(Power good)
   17. 電源失效信號(hào)(Power fail)
   18. 輸出上升波形(Power up)
   19. 輸出下降波形(Power down)
   20. 額外量測(cè)測(cè)試
   21. 過載保護(hù)點(diǎn)測(cè)試
   22. 過載反應(yīng)時(shí)間測(cè)試
   23. 過載恢復(fù)時(shí)間
   24. 短路峰值電流測(cè)試
   25. 短路有效值電流測(cè)試 
   26. 過電壓保護(hù)測(cè)試/低電壓保護(hù)測(cè)試
   27. 過功率保護(hù)測(cè)試
   28. 擴(kuò)充電壓測(cè)試
   29. 輸出調(diào)整測(cè)試
   30. 輸入沖擊電流測(cè)試
   31. 輸入有效值電流測(cè)試
   32. 輸入峰值電流測(cè)試
   33. 輸入功率測(cè)試
   34. 輸入功率因素測(cè)試
   35. 效率測(cè)試
   36. 輸入電壓緩升
   37. 輸入頻率緩升/降測(cè)試
   38. 輸入斷電測(cè)試
   39. 輸入干擾模擬測(cè)試
   40. 外部負(fù)載波形模擬測(cè)試
   41. 外部動(dòng)態(tài)測(cè)試

開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

適用于AC/DC Power Supply 及 DC/DC Convertor之測(cè)試應(yīng)用
45項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能，擴(kuò)充性強(qiáng)，可輕易整合其它具標(biāo)準(zhǔn)化界面之測(cè)試器
測(cè)試速度快，較傳統(tǒng)ATS速度快約3-4倍
開放式系統(tǒng)平臺(tái)，使用者可依需求自行編輯測(cè)試步驟
標(biāo)準(zhǔn)化儀控界面語(yǔ)言及簡(jiǎn)單易學(xué)圖形化操作環(huán)境(Windows界面)
提供報(bào)表設(shè)計(jì)，統(tǒng)計(jì)分析能力

標(biāo)準(zhǔn)配置構(gòu)成：

3臺(tái)620電子負(fù)載， 3臺(tái)650電子負(fù)載， 1臺(tái)6210-60擴(kuò)展測(cè)量單元，
1臺(tái)AC source 6530，一個(gè)機(jī)柜及配套線材。 可根據(jù)需求，靈活配置。

系統(tǒng)主要特性：
效率高
系統(tǒng)穩(wěn)定度強(qiáng)
準(zhǔn)確度高
擴(kuò)充性強(qiáng)
統(tǒng)計(jì)分析能力