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日本日置C測試儀3504-60
3504-60,LCR測試儀,數(shù)字電橋,頻率測試儀,電容測試儀
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
高速測量2ms
能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
對應測試線，比側儀功能/觸發(fā)輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。
按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
基本參數(shù)
測量參數(shù) Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）
測量范圍 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本確度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數(shù)
測量頻率 120Hz, 1kHz
測量信號電平 恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:～170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～1.45mF 量程 (測量頻率120Hz)
CV 500mV: ～170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～1.45mF 量程 (測量頻率120Hz)
CV 1V: ～70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～700μF 量程 (測量頻率120Hz)
輸出電阻 5Ω（開路端子電壓模式,上述測量范圍以外）
顯示 發(fā)光二級管 （6行表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定）
測量時間 典型值: 2.0 ms （1 kHz, FAST）
※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同
機能 4端子控制檢測功能（僅限3504-60），BIN測量（除去3504-40），觸發(fā)同時輸出，儲存測量條件，比較測量值的場強，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標準裝備），GP-IB接口（3504-40除外）
電源 AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 110VA
體積及重量 260×100×220mm, 3.8kg
附件 電源線×1，預備電源保險絲×1，接地適配器×1
(不能單獨使用，測量時需要選用測試冶具或探頭) |
廣州宇測電子科技有限公司
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