- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
自從晶體管，線路板的誕生之日開始表面阻抗測(cè)試SIR/離子遷移測(cè)試就成為一個(gè)常見的測(cè)試工具，人們常試用其進(jìn)行如下測(cè)試：來料檢驗(yàn)，材料特性檢測(cè)和驗(yàn)證，失效分析，品質(zhì)一致性檢查，產(chǎn)品壽命的預(yù)測(cè)分析等
SIR8000可以進(jìn)行 表面絕緣阻抗測(cè)試，CAF：Conductive Anodic Filaments導(dǎo)電陽極絲測(cè)試，ECM電化學(xué)遷移測(cè)試，助焊劑，錫膏，三防涂料等測(cè)試。
系統(tǒng)概述：
1． 本系統(tǒng)采用精密電流測(cè)量法，實(shí)現(xiàn)多路高阻測(cè)量
2. 相互獨(dú)立的多組試驗(yàn)系統(tǒng)，可使測(cè)試系統(tǒng)同時(shí)在一個(gè)或多個(gè)試驗(yàn)箱體內(nèi)試驗(yàn)多種不同試驗(yàn)電壓、測(cè)試電壓以及不同試驗(yàn)時(shí) 間的樣品；
3． 采用高可靠性、高的國(guó)外品牌儀器，以保證測(cè)試系統(tǒng)的可靠性；
4． 面向用戶開發(fā)的測(cè)試軟件，充分滿足不同用戶的獨(dú)特要求，測(cè)試軟件的操作界面更完善、更方便；
5． 模組式的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，使維修方便、快捷；
6． 獨(dú)立的UPS供電系統(tǒng)，使測(cè)試系統(tǒng)能夠保證測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性，可以保證在斷電時(shí)測(cè)量數(shù)據(jù)不丟失。
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào) | SIR8000 |
模組設(shè)計(jì) | 模組獨(dú)立控制，可獨(dú)立測(cè)試 |
通道數(shù) | 用戶可以定義，>32路 |
工作時(shí)間 | 0 - 9999小時(shí)，用戶定義 |
偏置電壓 | 用戶可根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)定義 |
測(cè)試電壓 | 用戶可根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)定義 |
電阻測(cè)量范圍 | 1012Ω@5v測(cè)試，1013@100v |
電阻測(cè)量 | 當(dāng)測(cè)試數(shù)據(jù)在1 х 104 - 1 х 109 可以保證 ≤±3% |
電流測(cè)量 | ±1.015%（20pA范圍，滿量程） |
電流測(cè)量范圍 | 1fA - 20mA |
測(cè)試過程取樣間隔 | 4秒/點(diǎn) |
高阻短路閾值 | 104 - 109Ω用戶自定義 |
測(cè)試儀器供電 | UPS電源 |
測(cè)量夾具 | 根據(jù)用戶要求定制 |
環(huán)境試驗(yàn)箱控制 | 如果通信協(xié)議，在實(shí)現(xiàn)控制 |
測(cè)試軟件語言界面 | 英文，中文可以選擇 |
測(cè)試數(shù)據(jù)輸出 | 實(shí)時(shí)監(jiān)控 |
數(shù)據(jù)保存 | 文件方式保存，用戶可以調(diào)用 |
硬件原理圖
兼容標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn) | 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 測(cè)試方法 |
2.5.27 | Surface Insulation Resistance of Raw Printed Wiring Board Material | SIR |
2.6.3.3B | Surface Insulation Resistance, Fluxes | SIR |
2.6.3.4A | Moisture and Insulation Resistance – Conformal Coating | SIR |
2.6.3.5 | Bare Board Cleanliness by Surface Insulation Resistance | SIR |
2.6.3.6 | Surface Insulation Resistance - Fluxes -Telecommunications | SIR |
2.6.3.7 | Surface Insulation Resistance | SIR |
2.6.14D | Resistance to Electrochemical Migration, Solder Mask- | SIR |
2.6.14.1 | Electrochemical Migration Resistance Test | SIR |
2.6.19 | Environmental and Insulation Resistance Test of Hybrid Ceramic Multilayer Substrate Boards | SIR |
2.6.25 | Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test | SIR |
