- 產品品牌:
- 天光
- 產品型號:
- PX-1
*平行平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
*平行平晶具有高的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。 平行平晶技術要求及價格
| 組別 | 兩工作面的平行度 | 工作面的平面度 | 2/3d范圍內的平面度 | 價格 |
| I(0-25) | 0.6 | 0.1 | 0.05 | 750 |
| II(25-50) | 0.6 | 0.1 | 0.05 | 1000 |
| III(50-75) | 0.8 | 0.1 | 0.05 | 1375 |
| IV(75-100) | 1.0 | 0.1 | 0.05 | 1750 |








