插損/回?fù)p一體化測試站
ADIR-161型光纖插回?fù)p測試儀是ATHENA開發(fā)研制出的帶微處理器的精密光檢測儀表，具有的性能價格比。是用于光有源器件和光無源器件的回波損耗測試及設(shè)備裝配檢查、生產(chǎn)質(zhì)量檢測的理想的測量工具，是光纖通信系統(tǒng)研究、開發(fā)和生產(chǎn)，以及施工、維護(hù)等部門備的基本測試儀器。
ADIR-161型光纖插回?fù)p測試儀可以進(jìn)行寬動態(tài)范圍及高的光回波損耗測量。由于采用了大動態(tài)范圍和微弱信號檢測等的信號處理和軟件處理技術(shù)，具有當(dāng)前國際水平。
性能特點(diǎn)：
-操作簡單，測量回波損耗及損耗過程中無需任何按鍵
-測試速度快，回?fù)p、插損分別顯示，測試結(jié)果一目了然，減輕操作人員視覺疲勞
-回?fù)p/插損測試波長同步自動設(shè)定，減少操作步驟
-可同時完成雙波長測試
-一機(jī)多用，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠（可用作光插回?fù)p儀、臺式光功率計(jì)、臺式光源）
-光源接頭可拆卸方便捷清潔，并提供的功率計(jì)接口配置
-可將測試數(shù)據(jù)保存在電腦上，方便記錄
操作簡單：在測量回?fù)p及插損過程中無需任何按鍵操作，回?fù)p/插損值分別在一臺儀器上的兩個液晶窗口顯示，測試結(jié)果一目了然。儀器將值及參考值等參數(shù)自動存儲在其內(nèi)部，即便是儀器斷電后再開機(jī)，正常情況下不需重復(fù)校準(zhǔn)。
波長自動同步設(shè)定：在回?fù)p模式下，儀器將自動同步設(shè)定光源及功率計(jì)在同一測試波長；功率計(jì)模式時，可單獨(dú)設(shè)定功率測試波長。
多種工作模式：儀器可設(shè)定的工作模式有：
-1310nm測試，用于測試1310nm的回?fù)p及插損。
-1550nm測試，用于測試1550nm的回?fù)p及插損。
-雙波長1310/1550nm測試，用于同時測試1310/1550nm雙波長的回?fù)p及插損（標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品為雙光源）。
-光功率計(jì)模式，用作為高動態(tài)范圍（-70dBm）、高光功率計(jì)。
-該測試站也可用作為高穩(wěn)定激光源，起到一機(jī)多用的作用。
雙波長測試：儀器內(nèi)置的雙波長測試模式將測試雙波長1310/1550nm的回?fù)p及插損，雙波長的回?fù)p/插損值將通過光源波長鍵切換顯示在LCD上。
光學(xué)接口易于清潔：光功率計(jì)采用活動接口，可輕易卸下以便對光探測器進(jìn)行清潔，或更換其它型號適配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等，用于測試各種型號跳線?；?fù)p測試部分的FC/APC接口采用結(jié)構(gòu)，可輕易卸下對內(nèi)部光纖接口端面進(jìn)行清潔。同時，光學(xué)接口都具有塵設(shè)計(jì)。
人體工學(xué)設(shè)計(jì)：儀器整機(jī)外觀緊湊、美觀、實(shí)用。面板采用按鍵開關(guān)設(shè)計(jì)，手感良好，外殼采用高質(zhì)量鋁塑機(jī)箱，儀器性能不受生產(chǎn)環(huán)境下可能存在的電氣干擾。LCD屏對比度高，并采用白色高亮LED作背光，顯示清晰。儀器支架可隨意調(diào)節(jié)，并配有提手，適應(yīng)不同要求，合人體工學(xué)。
測試高：儀器內(nèi)部采用的微電子技術(shù)以及高質(zhì)量光學(xué)器件，配合精心編程的內(nèi)置軟件，使得儀器光源輸出功率高且其穩(wěn)定，測量范圍寬，測試速度快，具有的測量準(zhǔn)確性以及重復(fù)性。
ADIR-161型光纖插回?fù)p測試儀是ATHENA開發(fā)研制出的帶微處理器的精密光檢測儀表，具有的性能價格比。是用于光有源器件和光無源器件的回波損耗測試及設(shè)備裝配檢查、生產(chǎn)質(zhì)量檢測的理想的測量工具，是光纖通信系統(tǒng)研究、開發(fā)和生產(chǎn)，以及施工、維護(hù)等部門備的基本測試儀器。
ADIR-161型光纖插回?fù)p測試儀可以進(jìn)行寬動態(tài)范圍及高的光回波損耗測量。由于采用了大動態(tài)范圍和微弱信號檢測等的信號處理和軟件處理技術(shù)，具有當(dāng)前國際水平。
性能特點(diǎn)：
-操作簡單，測量回波損耗及損耗過程中無需任何按鍵
-測試速度快，回?fù)p、插損分別顯示，測試結(jié)果一目了然，減輕操作人員視覺疲勞
-回?fù)p/插損測試波長同步自動設(shè)定，減少操作步驟
-可同時完成雙波長測試
-一機(jī)多用，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠（可用作光插回?fù)p儀、臺式光功率計(jì)、臺式光源）
-光源接頭可拆卸方便捷清潔，并提供的功率計(jì)接口配置
-可將測試數(shù)據(jù)保存在電腦上，方便記錄
操作簡單：在測量回?fù)p及插損過程中無需任何按鍵操作，回?fù)p/插損值分別在一臺儀器上的兩個液晶窗口顯示，測試結(jié)果一目了然。儀器將值及參考值等參數(shù)自動存儲在其內(nèi)部，即便是儀器斷電后再開機(jī)，正常情況下不需重復(fù)校準(zhǔn)。
波長自動同步設(shè)定：在回?fù)p模式下，儀器將自動同步設(shè)定光源及功率計(jì)在同一測試波長；功率計(jì)模式時，可單獨(dú)設(shè)定功率測試波長。
多種工作模式：儀器可設(shè)定的工作模式有：
-1310nm測試，用于測試1310nm的回?fù)p及插損。
-1550nm測試，用于測試1550nm的回?fù)p及插損。
-雙波長1310/1550nm測試，用于同時測試1310/1550nm雙波長的回?fù)p及插損（標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品為雙光源）。
-光功率計(jì)模式，用作為高動態(tài)范圍（-70dBm）、高光功率計(jì)。
-該測試站也可用作為高穩(wěn)定激光源，起到一機(jī)多用的作用。
雙波長測試：儀器內(nèi)置的雙波長測試模式將測試雙波長1310/1550nm的回?fù)p及插損，雙波長的回?fù)p/插損值將通過光源波長鍵切換顯示在LCD上。
光學(xué)接口易于清潔：光功率計(jì)采用活動接口，可輕易卸下以便對光探測器進(jìn)行清潔，或更換其它型號適配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等，用于測試各種型號跳線?；?fù)p測試部分的FC/APC接口采用結(jié)構(gòu)，可輕易卸下對內(nèi)部光纖接口端面進(jìn)行清潔。同時，光學(xué)接口都具有塵設(shè)計(jì)。
人體工學(xué)設(shè)計(jì)：儀器整機(jī)外觀緊湊、美觀、實(shí)用。面板采用按鍵開關(guān)設(shè)計(jì)，手感良好，外殼采用高質(zhì)量鋁塑機(jī)箱，儀器性能不受生產(chǎn)環(huán)境下可能存在的電氣干擾。LCD屏對比度高，并采用白色高亮LED作背光，顯示清晰。儀器支架可隨意調(diào)節(jié)，并配有提手，適應(yīng)不同要求，合人體工學(xué)。
測試高：儀器內(nèi)部采用的微電子技術(shù)以及高質(zhì)量光學(xué)器件，配合精心編程的內(nèi)置軟件，使得儀器光源輸出功率高且其穩(wěn)定，測量范圍寬，測試速度快，具有的測量準(zhǔn)確性以及重復(fù)性。
其他說明
| 型號 | ADIR161A | ADIR161B | ADIR161C |
| 光回波損耗測試 | |||
| 回?fù)p光源波長 | 1310/1550nm | 1310nm | 1550nm |
| 回?fù)p測試校準(zhǔn)波長 | 1310/1550nm | 1310nm | 1550nm |
| 回?fù)p測試范圍 | 14 ~ 70 dB | ||
| 測試 | 0.25dB | ||
| 光源輸出穩(wěn)定性 | 0.05dB/ 小時 ( @ 25 ℃) | ||
| 接口類型 | FC/APC | ||
| 光損耗測試 | |||
| 波長范圍 | 0.85 ~ 1.7μ m | ||
| 檢測器件 | InGaAs | ||
| 功率測量范圍 | - 70 ~ + 6 dBm ( 其他范圍可選 ) | ||
| 校準(zhǔn)波長 | 850/1300/1310/1550nm | ||
| 測試 | 0.25dB | ||
| 測試模式 | dBm/dB/WATT | ||
| 顯示分辨率 | 對數(shù): 0.001dB ;線性: 0.001nw/μ W/mW | ||
| 接口類型 | 活動接口, FC/SC/ST/ 通用 φ 2.5mm / 通用 φ 1.25mm 適配器 | ||
| 整機(jī)參數(shù) | |||
| 電源 | AC90 ~ 260V | ||
| 操作環(huán)境 | 工作溫度 0 ~ +45 ℃ 濕度 ≤ 85% RH | ||
