插損/回損一體化測試站
　　
　　ADIR-161型光纖插回損測試儀是ATHENA開發研制出的帶微處理器的精密光檢測儀表，具有的性能價格比。是用于光有源器件和光無源器件的回波損耗測試及設備裝配檢查、生產質量檢測的理想的測量工具，是光纖通信系統研究、開發和生產，以及施工、維護等部門備的基本測試儀器。
　　ADIR-161型光纖插回損測試儀可以進行寬動態范圍及高的光回波損耗測量。由于采用了大動態范圍和微弱信號檢測等的信號處理和軟件處理技術，具有當前國際水平。
　　
　　性能特點：
　　-操作簡單，測量回波損耗及損耗過程中無需任何按鍵
　　-測試速度快，回損、插損分別顯示，測試結果一目了然，減輕操作人員視覺疲勞
　　-回損/插損測試波長同步自動設定，減少操作步驟
　　-可同時完成雙波長測試
　　-一機多用，經濟實惠（可用作光插回損儀、臺式光功率計、臺式光源）
　　-光源接頭可拆卸方便捷清潔，并提供的功率計接口配置
　　-可將測試數據保存在電腦上，方便記錄
　　
　　操作簡單：在測量回損及插損過程中無需任何按鍵操作，回損/插損值分別在一臺儀器上的兩個液晶窗口顯示，測試結果一目了然。儀器將值及參考值等參數自動存儲在其內部，即便是儀器斷電后再開機，正常情況下不需重復校準。
　　
　　波長自動同步設定：在回損模式下，儀器將自動同步設定光源及功率計在同一測試波長；功率計模式時，可單獨設定功率測試波長。
　　
　　多種工作模式：儀器可設定的工作模式有：
　　-1310nm測試，用于測試1310nm的回損及插損。
　　-1550nm測試，用于測試1550nm的回損及插損。
　　-雙波長1310/1550nm測試，用于同時測試1310/1550nm雙波長的回損及插損（標準產品為雙光源）。
　　-光功率計模式，用作為高動態范圍（-70dBm）、高光功率計。
　　-該測試站也可用作為高穩定激光源，起到一機多用的作用。
　　
　　雙波長測試：儀器內置的雙波長測試模式將測試雙波長1310/1550nm的回損及插損，雙波長的回損/插損值將通過光源波長鍵切換顯示在LCD上。
　　
　　光學接口易于清潔：光功率計采用活動接口，可輕易卸下以便對光探測器進行清潔，或更換其它型號適配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等，用于測試各種型號跳線。回損測試部分的FC/APC接口采用結構，可輕易卸下對內部光纖接口端面進行清潔。同時，光學接口都具有塵設計。
　　
　　人體工學設計：儀器整機外觀緊湊、美觀、實用。面板采用按鍵開關設計，手感良好，外殼采用高質量鋁塑機箱，儀器性能不受生產環境下可能存在的電氣干擾。LCD屏對比度高，并采用白色高亮LED作背光，顯示清晰。儀器支架可隨意調節，并配有提手，適應不同要求，合人體工學。
　　
　　測試高：儀器內部采用的微電子技術以及高質量光學器件，配合精心編程的內置軟件，使得儀器光源輸出功率高且其穩定，測量范圍寬，測試速度快，具有的測量準確性以及重復性。

其他說明

型號	ADIR161A	ADIR161B	ADIR161C
光回波損耗測試
回損光源波長	1310/1550nm	1310nm	1550nm
回損測試校準波長	1310/1550nm	1310nm	1550nm
回損測試范圍	14 ~ 70 dB
測試	0.25dB
光源輸出穩定性	0.05dB/ 小時 ( @ 25 ℃)
接口類型	FC/APC
光損耗測試
波長范圍	0.85 ~ 1.7μ m
檢測器件	InGaAs
功率測量范圍	- 70 ~ + 6 dBm ( 其他范圍可選 )
校準波長	850/1300/1310/1550nm
測試	0.25dB
測試模式	dBm/dB/WATT
顯示分辨率	對數: 0.001dB ;線性: 0.001nw/μ W/mW
接口類型	活動接口, FC/SC/ST/ 通用 φ 2.5mm / 通用 φ 1.25mm 適配器
整機參數
電源	AC90 ~ 260V
操作環境	工作溫度 0 ~ +45 ℃ 濕度 ≤ 85% RH