OmniScan SX  更小巧、更輕便的OmniScan儀器

OmniScan  SX

 Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了新研制的OmniScan SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術的經驗，體現了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應用，這款儀器操作為方便，性價比高。OmniScan SX有兩種型號：SX  PA和SX UT。SX  PA是一款16:64PR相控陣單元，與具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個常規UT通道，可以進行脈沖回波、一發一收或TOFD檢測。與OmniScan  MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體積小50 %，具有OmniScan產品的更為輕巧便攜的性能。設置可以在NDT SetupBuilder中為檢測進行設置，然后再通過SD卡或U鑰匙，將設置直接導入到OmniScan SX儀器。進行采集之前，在儀器中進行幾項基本操作，如：設置閘門和范圍。由于OmniScan SX具有以下幾個特性，用戶也可以在儀器中方便地創建設置：?  自動探頭識別?  單步驟、預先配置應用的向導?  焊縫覆蓋與聲線跟蹤模擬校準為完成一項合規范的檢測，儀器中的校準向導可以每組中的每個聚焦法則都直接等同于一個單通道常規探傷儀。用戶在完成所要求的校準過程中，會得到向導的分步指導。所校準的項目包括聲速、楔塊延遲、靈敏度、TCG、DAC、AWS及編碼器。現在，儀器可以自動完成TOFD PCS校準與直通波矯直的操作。采集在進行手動、單線或光柵編碼掃查時，OmniScan SX可以方便地對檢測參數進行配置。采集數據可以用戶選擇的視圖形式實時顯示在屏幕上，用戶還可以將數據存儲于具有熱插拔功能的SD卡或U 2.0設備中。?  智能布局?  全屏模式，可更好地顯示缺陷?  可以使用不同的閘門組合對同步和測量進行處理數據分析和制作?  數據光標、參考光標與測量光標用于缺陷的定量。?  擴展的數據庫、預先定義的三角學參數列表、缺陷相對于軸的統計數據、體積位置信息、基于規范的合格     標準、腐蝕成像的統計數據等等。?  在進行離線閘門重新定位的操作中，視圖可被鏈接在一起，進行交互式分析和自動更新。?  優化的預置布局可對缺陷的長度、深度和高度進行快速方便的定量。無論您想在計算機中完成數據分析，還是希望您的OmniScan儀器采集完數據后繼續在現場進行數據分析，OmniPC或TomoView都是理想的與OmniScan配套使用的軟件工具。價格便宜、方便攜帶、用途廣泛用途廣泛的新型Omniscan SX儀器的出現進一步壯大了Olympus業已齊備的型市場解決方案庫，開發這些解決方案的宗旨都是簡化檢測工作流程，從整體上生產效率。