| 類型 | 鍍層測厚儀 | 測量范圍 | (0.25～12.7) μm（mm） |
面銅測厚儀CMI165用途：
牛津儀器i近推出的CMI165，是世界款帶溫度補償功能的面銅測厚儀，手持式設計合人體工學原理。一直以來，面銅測厚的結果往往受到樣品溫度的影響。CMI165溫度補償功能解決了這個問題，測量結果而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探頭護罩，探頭的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進行檢測。
面銅測厚儀CMI165特征：
1、數據顯示單位可選擇mils 、μm或Oz
2、儀器的操作界面十分友好，有英文和簡體中文2種語言供選擇。
3、強大的數據統(tǒng)計分析功能，包括數據記錄、平均數、標準差和上下限提醒功能。
4、測試數據可通過U2.0實現傳輸。
5、存儲量：9690條檢測結果，可存儲讀數，圖表，銅類型，線寬值，導電參數及溫度補償值。 單位mils 、μm、Oz
6、供電：普通AA電池供電，不使用自動斷電。
7、測量方式：SRP-T1探頭自動測量。 8、校準：儀器為工廠預校準無需標準片
面銅測厚儀CMI165技術參數：
項目 規(guī)格
銅厚測量范圍 非電鍍銅 (0.25～12.7) μm， （0.01～0.5）mils
電鍍銅 （0.25～245）μm， （0.01～10）mils
0.08@20μm；0.
本公司經營面銅測厚儀，質量，歡迎咨詢洽談。
