詢價
- 測量元素范圍：鈉（Na）到鈾（U）
- 元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
- 同時分析元素：一次性可測幾十種元素
- 測量時間：60秒-200秒
- 能量分辨率為：145±5eV
- 管壓：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
- 外形尺寸：660mm×510mm×350mm
產(chǎn)品介紹
礦石光譜分析儀是使用X射線照射試樣，對產(chǎn)生的X射線熒光進行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。由于X熒光光譜儀器使用方便、快捷，高，成本低等特點，已經(jīng)在很多行業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。尤其在地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)，其應(yīng)用更得到客戶的認可。
天瑞儀器生產(chǎn)的3600K\SUPER2400\EDX4500H臺式系列和便攜式系列X熒光光譜分析儀，就是在地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)應(yīng)用非常成功的幾款光譜儀器，它們具有以下特點：
1、 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素，并達到測量要求。
Genius7000型便攜式光譜礦石分析儀
產(chǎn)品概述
Genius 7000 XRF系列是專門針對在現(xiàn)場、野外進行X熒光分析應(yīng)用而設(shè)計的儀器，可充分滿足檢驗地質(zhì)樣品、巖芯、原礦、廢棄物、精礦、尾礦的現(xiàn)場分析，對各類樣品進行快速識別和成份分析鑒別。具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；
EDX4500H型光譜礦石分析儀
光譜礦石分析儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時分析元素：性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
標準配置
光譜礦石分析儀高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
光譜礦石分析儀應(yīng)用領(lǐng)域
光譜礦石分析儀合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）.
