詢價
- 品牌/商標(biāo)：九州空間
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
- 單晶少子壽命測試儀：測試單晶電阻率范圍\t >2Ω.cm
- 單晶少子壽命測定儀：可測單晶少子壽命范圍\t 5μS～7000μS
- 單晶少子壽命速測儀：配備光源類型\t 波長：1.09μm；余輝<1 μS；
| JZ-LT2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標(biāo) ： | ||||||||||||||||||||||||
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