方塊電阻測試儀 型號:TZ240-ST-21 庫號：D397541

方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要；用基準電源和運算放大器組成高穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、高的特點。

特點

1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部，測量準確穩(wěn)定，低功耗；

2以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；

3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

4體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5之手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜

6

帶抗靜電模塊

技術指

測量范

按方塊電阻量值大小為二個量程檔：

1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；

2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；

小辨率：0.01Ω/□

恒流源

測量過程誤差：≤±0.8%

模數轉換器

量程：0～199.99mv；

辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，量程均自動顯示；小數點同步顯示；

測量不確定度

在整個量程范內，測量不確定度≤5%

四探針規(guī)格

間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ

電源

9V疊層電池1節(jié)

方塊電阻測試儀 型號:DH21-ST-21方塊電阻測試儀 型號:DH21-ST-21

方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要；用基準電源和運算放大器組成高穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、高的特點。

特點

1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部，測量準確穩(wěn)定，低功耗；

2以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；

3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

4體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

5之手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜

6

帶抗靜電模塊

技術指

測量范

按方塊電阻量值大小為二個量程檔：

1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；

2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；

小辨率：0.01Ω/□

恒流源

測量過程誤差：≤±0.8%

模數轉換器

量程：0～199.99mv；

辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，量程均自動顯示；小數點同步顯示；

測量不確定度

在整個量程范內，測量不確定度≤5%

四探針規(guī)格

間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ

電源

9V疊層電池1節(jié)