詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省昆山市中華園西路1888號
- X\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探測器：分辨率低至135eV
- 樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
- 同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
- 檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
- SDD探測器：分辨率低至135eV
- 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
Thick600鐵鍍鋅鎳合金測厚儀是天瑞儀器實惠的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結構，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務可靠及時。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：
1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005
3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005
鐵鍍鋅鎳合金測厚儀測量標準
1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美國標準A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
分析原理
Thick600鐵鍍鋅鎳合金測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。
Thick 8000鐵鍍鋅鎳合金測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型高端儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
性能特點
1.精密的三維移動平臺；
2.卓越的樣品觀測系統(tǒng)；
3.先進的圖像識別；
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測；
5.四種微孔聚焦準直器，自動切換；
6.雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞；
7.采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試。
安裝要求：
1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2 環(huán)境相對濕度：<70%
3 工作電源：交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾。
參數(shù)規(guī)格
1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器：分辨率低至135eV；
6.先進的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭；
8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺重復定位：小于0.1um；
廠家介紹
天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售X 熒光光譜分析儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的高端分析儀器及應用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關技術服務，是國內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產(chǎn)品主要應用于環(huán)境保護與安全（空氣、土壤、水質(zhì)污染檢測等）、礦產(chǎn)與資源（地質(zhì)、采礦）、商品檢驗甚至人體微量元素的檢驗等眾多領域。
