一、產(chǎn)品介紹   

     ZK-CLJ-E型塵埃粒子計數(shù)器的技術(shù)指標均滿足計量總局頒布的JJF1190-2008檢定規(guī)程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術(shù)及國際上的SMT芯片貼片封裝技術(shù)和半導體激光傳感器技術(shù)及噪聲氣泵，可直接打印檢測結(jié)果。具有功能多、測量高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。ZK-CLJ-E型塵埃粒子計數(shù)器采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數(shù)，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數(shù)目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。該系列儀器性能設(shè)計、質(zhì)量穩(wěn)定

　　 ZK-CLJ-E型塵埃粒子計數(shù)器已被廣泛應(yīng)用于潔凈室檢測；過濾器現(xiàn)場檢測、撿漏；可監(jiān)測凈工作臺、生物柜，HVAC系統(tǒng)，計算機室、飲料包裝環(huán)境，器械生產(chǎn)環(huán)境，醫(yī)院潔凈室，汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥、生化制品、食品衛(wèi)生、精細化工、精密機械和航空航天等生產(chǎn)和科研部門，是制藥企業(yè)及其監(jiān)督管理部門貫徹GMP規(guī)范及電子生產(chǎn)企業(yè)的儀器。

二、主要技術(shù)參數(shù)及性能

1.光源:半導體激光光源

2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)

3.檢測范圍: 100級～100萬級  

4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L

5.粒徑通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六檔

6.顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉(zhuǎn)換成1m3所含顆粒數(shù)。

7.采樣周期: 1～10 (min)

8.自凈時間: ≤15 (min)

9.校準：可追溯美國標準技術(shù)協(xié)會（NIST），我公司已通過計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術(shù)研究院可自行進行校準或第三方計量機構(gòu)進行校準

10.工作環(huán)境: 溫度:10～35℃    相對溫度:20～75%RH

11.功耗: 25W

12.測量溫度和濕度的范圍與：（選購）

（1）溫度：0～50℃±1℃

（2）濕度：0～100%RH±5%

13.采樣點數(shù)   2～7點設(shè)定

14.每點采樣次數(shù)   2～9次設(shè)定

15.UCL報表：合FS-209E、中國GMP的標準

16.工作時間：8 小時

17.電源：AC220V±10%    50±2Hz

18.重量:4.8kg

19.外形尺寸: 260×130×340

20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。

21.備注: 內(nèi)置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架

(溫濕度探頭為選購件)