詢價(jià)
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廈門
- 探測(cè)器像素：4096
- 超高分辨率：最低至0.01nm
- 響應(yīng)范圍：180 - 1100 nm
- 探測(cè)器制冷溫度：0 ℃
- 最大讀出速率：10 MHz max
產(chǎn)品概述
ATP3034系列是奧譜天成依托深厚的光譜技術(shù)積累，推出的高性能光纖光譜儀。該系列產(chǎn)品采用先進(jìn)的4096像素探測(cè)器，配合創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計(jì)和信號(hào)處理系統(tǒng)，在180-1100nm的光譜范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了令人矚目的0.01nm超高分辨率。無論是基礎(chǔ)科學(xué)研究還是工業(yè)精密檢測(cè)，ATP3034系列都能提供可靠、準(zhǔn)確的光譜分析解決方案。
核心優(yōu)勢(shì)
可達(dá)分辨率：4096像素探測(cè)器配合優(yōu)化光路，分辨率可達(dá)可達(dá)0.01nm，可清晰分辨極其細(xì)微的光譜特征
優(yōu)異靈敏度：650V/(lx·s)的高靈敏度確保微弱信號(hào)的有效捕獲，配合1-65535ms的可調(diào)積分時(shí)間，滿足不同強(qiáng)度信號(hào)的檢測(cè)需求
靈活配置：提供標(biāo)準(zhǔn)版和TE深度制冷版可選，制冷版本有效降低暗噪聲，顯著提升信噪比和動(dòng)態(tài)范圍
寬譜段覆蓋：180-1100nm的光譜范圍覆蓋紫外、可見到近紅外區(qū)域，適用性廣泛
便捷集成：緊湊的機(jī)械結(jié)構(gòu)，配合SMA905光纖接口和自由空間光輸入選項(xiàng)，支持USB2.0和UART數(shù)據(jù)輸出，5V直流供電，極大簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成難度光纖光譜儀光纖光譜儀光纖光譜儀
詳細(xì)技術(shù)規(guī)格
探測(cè)器類型：4096像素陣列探測(cè)器
光譜范圍：180-1100nm
分辨率：0.01nm
靈敏度：650V/(lx·s)
光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T型
積分時(shí)間范圍：1-65535ms
數(shù)據(jù)接口：USB2.0（高速）/UART
電源輸入：DC 5V±10%，<2A
光輸入接口：SMA905光纖接口/自由空間光輸入
工作溫度：0℃（制冷版本）
型號(hào)選擇指南
ATP3000：2048像素配置，非制冷，適合常規(guī)高分辨率應(yīng)用
ATP3040：4096像素配置，非制冷，滿足超高分辨率需求
ATP3011P：4096像素配置，TE深度制冷，專為極低噪聲應(yīng)用設(shè)計(jì)
應(yīng)用領(lǐng)域
ATP3034系列憑借其卓越性能，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮重要作用：
精密分光測(cè)量：微量快速分光光度計(jì)、分光光度分析
材料分析：薄膜透過率、材料吸光度、表面反射率測(cè)量
光源表征：紫外、可見及近紅外光源的波長(zhǎng)檢測(cè)與光譜分析
科研儀器：橢偏儀配套測(cè)量、輻射分光分析
質(zhì)量檢測(cè)：工業(yè)在線光譜監(jiān)測(cè)、產(chǎn)品質(zhì)量控制
ATP3034系列將實(shí)驗(yàn)室級(jí)的光譜分析性能與便捷的系統(tǒng)集成特性完美結(jié)合，為科研工作者和工程師提供了可靠的光譜分析工具。其卓越的分辨率表現(xiàn)和穩(wěn)定的測(cè)量性能，使其成為高精度光譜分析領(lǐng)域的理想選擇。
