詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 探測器：FAST-SDD
- 電壓：220V
- 分辨率：129eV
- 原理：XRF
- 元素范圍：AL-U
連接器鍍金層測厚儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司制造的一種測量鍍層及其他金屬薄膜厚度的設(shè)備。以下是該儀器的詳細(xì)介紹：
儀器型號及特點(diǎn)，EDX2000A：該型號使用全自動軟件進(jìn)行操作，可以進(jìn)行多點(diǎn)測試，儀器和移動平臺均由軟件控制。配備φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器，能夠滿足微小測試點(diǎn)的需求；擁有高精度的移動平臺，重復(fù)定位精度小于0.005mm；采用高特定的激光進(jìn)行高度定位，可自動設(shè)定測試高度；此外，具備高分辨率探頭，使得分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。
詳情介紹
EDX600pro連接器鍍金層測厚儀是一款高性價比且功能多樣的X熒光檢測儀，配備了一鍵測試按鈕和高精度的X/Y移動滑軌，使用便利且快速。針對不同的產(chǎn)品尺寸和材料，可以靈活更換適合的準(zhǔn)直器和濾光片，以實(shí)現(xiàn)測量，同時還能進(jìn)行元素成分分析、各類異型涂鍍層的檢測，以及ROHS指令的符合性檢測。
連接器鍍金層測厚儀 EDX-V：經(jīng)過超過 30 年的 X 熒光膜厚測量技術(shù)研發(fā)，這是一款全新的從上到下照射的 X 熒光測試儀。它采用多導(dǎo)毛細(xì)管 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，適合于無損分析和測量極微小部件上的鍍層厚度。該儀器能夠高效、準(zhǔn)確地對微米級電子元件、芯片導(dǎo)線及晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分進(jìn)行分析和測量。
連接器鍍金層測厚儀由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)，專門用于測量鍍層及其他金屬薄膜的厚度。以下是該儀器的詳細(xì)介紹：
連接器鍍金層測厚儀EDX2000A：此設(shè)備采用全自動軟件進(jìn)行操作，能夠進(jìn)行多點(diǎn)測試，儀器和移動平臺均由軟件控制。配備φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器，適合微小測試點(diǎn)的需求；具備高精度的移動平臺，重復(fù)定位精度小于0.005mm；采用激光定位技術(shù)，可自動確定測試高度；此外，還配備高分辨率探頭，確保分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。
