差熱分析儀 型號:DZ3320A 庫號：D410374

差熱分析儀 型號:DZ3320A 庫號：D410374

差熱分析儀 型號:DZ3320A 庫號：D410374

差熱分析儀 型號:DZ3320A 庫號：D410374

儀器特點：

差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種。 差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)

隨溫度或時間的變化關系。 在 DTA 試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

參數：

1. 溫度范圍: 室溫~1150℃

2. 量程范圍: 0~±2000μ V

3. DTA 靈敏度: 0.01μ V

4. 升溫速率: 0.1～100℃/min

5. 溫度分辨率: 0.01℃

6. 溫度準確度: ±0.1℃

7. 溫度重復性: ±0.1℃

8.溫度控制: 升溫：程序控制恒溫：程序控制

可根據需要進行參數的調整恒溫時間任意設定

9.爐體結構: 爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，精 度高，易于操作

10.氣氛控制: 內部程序自動切換

11.數據接口: 標準 USB 接口 配套數據線和操作軟件

12.顯示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 觸摸屏顯示

13. 參數標準: 配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫 度進行校正

14.軟件：帶多點溫度校正及熱焓校正;可以導出EXECL數據,PDF報告

15.工作電源: AC 220V 50Hz

16.通訊：USB 雙向通信

17. 曲線掃描：升溫掃描、恒溫掃描、降溫掃描

18.儀器液晶屏界面帶三點溫度校正功能，滿足高中低不同溫度段測 試

儀器特點：

差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種。 差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)

隨溫度或時間的變化關系。 在 DTA 試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

參數：

1. 溫度范圍: 室溫~1150℃

2. 量程范圍: 0~±2000μ V

3. DTA 靈敏度: 0.01μ V

4. 升溫速率: 0.1～100℃/min

5. 溫度分辨率: 0.01℃

6. 溫度準確度: ±0.1℃

7. 溫度重復性: ±0.1℃

8.溫度控制: 升溫：程序控制恒溫：程序控制

可根據需要進行參數的調整恒溫時間任意設定

9.爐體結構: 爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，精 度高，易于操作

10.氣氛控制: 內部程序自動切換

11.數據接口: 標準 USB 接口 配套數據線和操作軟件

12.顯示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 觸摸屏顯示

13. 參數標準: 配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫 度進行校正

14.軟件：帶多點溫度校正及熱焓校正;可以導出EXECL數據,PDF報告

15.工作電源: AC 220V 50Hz

16.通訊：USB 雙向通信

17. 曲線掃描：升溫掃描、恒溫掃描、降溫掃描

18.儀器液晶屏界面帶三點溫度校正功能，滿足高中低不同溫度段測 試