型號/規格:BN-ZQ
產品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組...
型號/規格:BN-ZQ
產品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組...
型號/規格:HE-9721
產品描述:HE-9721蒸氣老化試驗箱 適用范圍: 適用于各電子連接器,被動元件及各具沾錫之電子產品,合安規MTL-STP-208F,202 1、內部尺寸:50cm(W)×40c...
型號/規格:HE-9721
產品描述:HE-9721蒸氣老化試驗箱 適用范圍: 適用于各電子連接器,被動元件及各具沾錫之電子產品,合安規MTL-STP-208F,202 1、內部尺寸:50cm(W)×40c...
型號/規格:XK
產品描述:蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機詳細介紹: 蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電...
型號/規格:XK
產品描述:蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機詳細介紹: 蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電...
型號/規格:BN-ZQ
產品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組...
型號/規格:BN-ZQ
產品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產業電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組...
型號/規格:HJ-ZQ100
產品描述:一.箱體說明:1. 內箱尺寸:50(W)×40(D)×17(H)cm2. 外箱尺寸:60(W)×50(D)×42(H)cm3. 單槽內尺寸:9(W)×40(D...
型號/規格:HJ-ZQ100
產品描述:一.箱體說明:1. 內箱尺寸:50(W)×40(D)×17(H)cm2. 外箱尺寸:60(W)×50(D)×42(H)cm3. 單槽內尺寸:9(W)×40(D...

