型號/規格:S1400D-LCD70#$東京精密%^71#$貿易商%^143#$全新%^72#$日本
產品描述:東京精密S1400D-LCD手機玻璃光潔度臺階儀多少錢,東京精密S1400D-LCD手機玻璃光潔度臺階儀市場報價,東京精密S1400D-LCD手機玻璃光潔度臺階儀總代理商-武漢科...
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型號/規格:NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$
產品描述:臺階儀 厚度47nm光柵標準樣品,三次重復測量結果(減噪修正,原始數據輸出)NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量...
型號/規格:NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$
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型號/規格:NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$
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型號/規格:XT102#$%^103#$%^139#$%^104#$
產品描述:布魯克DektakXT (探針式表面輪廓儀)設計,實現了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性<5?。這一里程碑式的產品源自于Dektak系列占據業界長達四十年的優異...
型號/規格:XT102#$%^103#$%^139#$%^104#$
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布魯克(Bruker)臺階儀第十代探針式表面輪廓儀DektakXT
型號/規格:DektakXT
產品描述:布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以5?。第十代DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)...
布魯克(Bruker)臺階儀第十代探針式表面輪廓儀DektakXT
型號/規格:DektakXT
產品描述:布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項性的設計,可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以5?。第十代DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)...
型號/規格:ET150
產品描述:產品特點: 二次元表面解析,可測量段差 高、高分辨率和良好的再現性 FPD面板顯示,可測定微細表面形狀、段差、粗度等 低測定力,可測定軟質材料
型號/規格:ET150
產品描述:產品特點: 二次元表面解析,可測量段差 高、高分辨率和良好的再現性 FPD面板顯示,可測定微細表面形狀、段差、粗度等 低測定力,可測定軟質材料
型號/規格:ET200
產品描述:KOSAKA ET200基于 Windows XP操作系統為多種不同表面提供的形貌分析,包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物器件、薄...
型號/規格:ET200
產品描述:KOSAKA ET200基于 Windows XP操作系統為多種不同表面提供的形貌分析,包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物器件、薄...
產品描述:集40多年的探針輪廓技術于一身,該系統在行業內的表現,以重現性和標準掃描范圍而著稱。它提供各種各樣的配置和附加選項,用于程序化測量、低探針力表征和細...
產品描述:集40多年的探針輪廓技術于一身,該系統在行業內的表現,以重現性和標準掃描范圍而著稱。它提供各種各樣的配置和附加選項,用于程序化測量、低探針力表征和細...
產品描述:探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀)Dektak XT 布魯克 Dektak XT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項性的設計,可以提供的重現性,重現性低于5&#197;。臺階...
產品描述:探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀)Dektak XT 布魯克 Dektak XT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項性的設計,可以提供的重現性,重現性低于5&#197;。臺階...
型號/規格:ET200
產品描述:供應日本KOSAKA臺階儀ET200——上海/蘇州/無錫/南京/天津/北京/武漢/西安/杭州/濟南/廣州 KOSAKA LAB ET 200微細形狀測定機(探針接觸式臺階儀) ...

