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品牌產(chǎn)品

OLED背光板壽命周期測量設(shè)備

描述：量測OLED面板長時間亮燈時的各種特性（輝度、色度、亮燈電流、電壓值），以檢查OLED面板的壽命。 立即詢價

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價格：電議

高靈敏度亮度計（輝度計）

描述：高靈敏度亮度計（輝度計） 立即詢價

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價格：電議

色度光譜分析儀系統(tǒng)

描述：色度光譜分析儀系統(tǒng) 立即詢價

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價格：電議

反射率光譜測量系統(tǒng)

描述：反射光譜量測 立即詢價

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價格：電議

透射率光譜測量系統(tǒng)

描述：透過率測量系統(tǒng) 立即詢價

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價格：電議

低相位差高速檢查機 RE-100

描述：低相位差高速檢查機 RE-100 立即詢價

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價格：電議

配光測量系統(tǒng) GP-1000

描述：配光測量系統(tǒng) GP-1000 立即詢價

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CIE平均化LED光度測量系統(tǒng) AL-1000

描述：CIE平均化LED光度測量系統(tǒng) AL-1000 立即詢價

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高感度分光光譜儀 MCPD-7700

描述：高感度分光光譜儀 MCPD-7700 立即詢價

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紫外、可見、近紅外光分光光譜儀 MCPD-3700

描述：紫外、可見、近紅外光分光光譜儀 MCPD-3700 立即詢價

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價格：電議

日本大塚(OTSUKA)電子膜厚測定儀

描述：紫外到近紅外光領(lǐng)域的反射光譜，適用於多層膜量測、光學(xué)常數(shù)分析的光干涉式膜厚儀。以光為量測媒介，非接觸式、不破壞樣品的高再現(xiàn)性。 190nm~1600nm的大範(fàn)圍波長解析。 1nm~250μm薄膜到厚膜的全般對應(yīng)。立即詢價

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相位差量測檢查機 RETS 100

描述：適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角（光學(xué)軸）或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置 立即詢價

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價格：電議

動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀 MPRT-2000

描述：動態(tài)畫面反應(yīng)時間檢測儀 MPRT-2000 立即詢價

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彩色濾光片色度檢測儀 LCF-3100

描述：穿透率、色度、光學(xué)濃度、膜厚、反射率、線寬等測量，完整支持彩色濾光片制程中檢測評價。 立即詢價

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平面顯示器光電特性檢查機 MD series

描述：全自動檢查FPD模塊的顯示性能及LCD背光模塊的亮燈性能。 立即詢價

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OLED背光板壽命周期測量設(shè)備

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