*平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。*平行平晶具有高的平面性和平行性。*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。平行平晶技術(shù)要求及價(jià)格組別兩工作面的平行度工作面的平面度2/3d范圍內(nèi)的平面度 價(jià)格平行平晶組I（0-25）0.60.10.05600平行平晶組II（25-50）0.60.10.05800平行平晶組III（50-75）0.80.10.051100平行平晶組IV（75-100）1.00.10.051400以上是平面平晶的詳細(xì)信息，如果您對(duì)平面平晶的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取平面平晶的新信息。
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