黃金純度分析儀器
EXF7200--是集西凡儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以獨特的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來能滿足貴金屬成分檢測的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成。
EXF7200--貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒探測器,(項目聯(lián)系人金先生 )以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設計,加上全軟件控制的自動調(diào)整移動平臺和切換準直器的裝置,使儀器操作更人性化、更方便。
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。 激發(fā)源: Mo靶的X光管 風冷 (無輻射)測量點尺寸:1~2mm樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0~90 mm樣品放大成像系統(tǒng)軟件: 菜單式軟件,帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計算計算機: 選擇配置檢測器: 固定式半導體封氣正比計數(shù)器微處理器控制的檢測器和讀出電路 其它規(guī)格: 電壓: 100~127或200~240V,50/60 Hz 功率: 120W 處尺寸: 500mm*500mm*400mm 重量: 48kg 技術(shù)指標 分析范圍: 1%~99.99% 測量時間: 自適應 測量: ± 0.1% 測試環(huán)境: 常溫常態(tài) 分析元素: Au 、Ag 、Pt 、Pb、Rh 、Ru 、Cu、Zn 、Ni 、Cd﹑W X射線源: X射線光管 高壓器: 4~50Kv 分析: 多通道模擬 操作系統(tǒng): Windows2000/Me/XP







