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微位移測量激光干涉儀
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微位移測量激光干涉儀

產品價格:
電議
產品型號:
ZLM800
供應商等級:
企業未認證
經營模式:
進出口貿易商
企業名稱:
上海貝丁漢工業自動化設備有限公司
所屬地區:
上海市
發布時間:
2015/6/15 17:00:08

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李經理先生(聯系我時,請說明是在維庫儀器儀表網看到的,謝謝)

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上海貝丁漢工業自動化設備有限公司

企業未認證營業執照未上傳

經營模式:進出口貿易商

所在地:上海市

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產品功能
    ZLM800微位移測量激光干涉儀——雙頻激光干涉儀,主要用于微位移部件的測量、角度變化量的監測、移動平臺運動情況的檢測、光刻機幾何量的測量、數控機床幾何量的測量等,多可實現六軸聯動。也可通過位移+偏擺+俯仰的三角關系測量檢測物體的振動變化。

性能優勢
l   真正意義上的雙頻激光干涉儀,頻差為640MHz。請用戶注意“激光干涉儀”和“雙頻激光干涉儀”概念的區別,眾所周知雙頻激光干涉儀更好、性能更穩定。世界范圍內只有兩家雙頻激光干涉儀的生產商,德國耶拿爾公司是其中的一家。
l  部件皆在德國生產制造,非為了降而在第三方進行部件加工。光學組件采用蔡司光學鏡,是世界上一家將的蔡司光學鏡用于激光干涉儀領域的產品制造商。
l  激光器壽命更長,可達20000小時,激光穩頻高,一小時內為±0.002ppm,在產品壽命內可達±0.02ppm
l  干涉鏡采用差分干涉原理,系統更高,可達±0.4ppm
l   計算機輔助光路調整,調整結果更準確。
l   采樣頻率更快,達1MHz,可在0.001Hz-1MHz之間進行選擇。
l 被測物體速度16m/s(可選);采用高AE950 PCI數據處理器,分辨率達0.6nm(當移動速度為1m/s時,線性分辨率更可為0.1nm)。
l 無加速度限制;當光線微弱時,性能也十分穩定。
l 信號<200ns;對電磁干擾不敏感。
l  對于多軸聯動的復雜光路測量和微位移測量,ZLM800型是理想的選擇


技術參數

型號:ZLM800使用數據處理器AE950 PCI
He-Ne激光平均波長:632.8 nm
激光穩頻:一小時2x10-9±0.002ppm 壽命內2x10-8±0.02ppm
系統(0-40℃時):±0.4ppm
光束直徑:6mm (可選3.2mm)
激光管突發輸出功率:1mW (激光等級2)
每束光可測量的軸數:6
線性測量距離:40m,可擴展為120m
角度測量范圍:± 15°20m軸線范圍
平面度測量范圍:20m行程
直線度測量范圍:± 5mm2m10m行程, 選用角度干涉儀可測30m行程
垂直度測量范圍:± 5mm2m10m行程, 30m行程需用角度干涉儀
速度:4m/s可選16m/s 80rad/s,角速度
加速:無限制
采樣頻率:內部1MHz,外部40MHz
預熱時間:10分鐘
/非線性:±0.3nm (角隅反射鏡) ±0.1nm (平面反射鏡)
距離測量分辨率:0.6nm (角隅反射鏡) 0.3nm (平面反射鏡) 0.1nm 可選
距離測量: (20°±0.5°) 使用AUK (20°±0.5°) 真空中時  ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m)
線性度測量分辨率:0.6nm (角隅反射鏡) 0.3nm (平面反射鏡) 0.1nm 可選
線性度測量: (20°±0.5°) 使用AUK (20°±0.5°) 真空中時  ±0.4ppm (μ/m) ±0.08 (±0.02)ppm (μ/m)
速度測量:±0.5ppm實測值
角度測量分辨率:0.015μrad (3x10-3 弧秒)
角度測量:±0.1ppm實測值
平面度測量分辨率:0.015μrad (3x10-3 弧秒)
平面度測量:±0.2%實測值 ±0.05 弧度/米運行距離
直線度測量分辨率:36nm10m行程 7.25nm2m行程
直線度測量:±0.5%實測值,2m行程 ± 2.5%實測值,10m行程
垂直度測量分辨率:36nm10m行程 7.25nm2m行程
垂直度測量:±0.5%實測值2m± 0.5弧秒* ±2.5%實測值10m± 0.5弧秒*
數據接口:積分信號
32 Bit (
實時時間)
Dt ? 20 ns
數據分析標準:ISO230/VDI3441/VDI2617/NMTBA
工作環境:溫度:15°C-30°C 濕度:<90%無冷凝
儲存環境:溫度:10°C-40°C 濕度:<95%無冷凝

應用 以下是為某項目設計的ZLM800雙頻激光干涉儀兩個應用。在個中,用兩個3軸角度干涉儀分別兩個擺鏡的擺動,實時測試兩個擺鏡對應量(俯仰、偏擺和位移)的差異情況。在第二個中,用一個3軸角度干涉儀來測試擺鏡的鏡面擺動情況,2個單軸位移干涉儀檢測一個兩軸位移平臺的運動情況。


  下述是為國內某研究所某項目設計的ZLM800測量系統。用戶預先把被測物體放置在密閉箱中,密閉箱留有觀察窗口。所需要測量的數據是被目標Ⅰ、被目標Ⅱ的X、Y向的角度變化量,以及這兩個目標在Z方向的相對變化量。

ZLM800部分光路圖示例和部件示意圖





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