采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn),其測試速度高達(dá)50次/秒,無論是人工測試或是自動(dòng)化測試都應(yīng)付自如。
技術(shù)規(guī)格●測試準(zhǔn)確度:0.3%●測試范圍:0~100Ω●測試電流:1mA●雙路同時(shí)測試:標(biāo)準(zhǔn)件和被測件同時(shí)檢測性能特征●內(nèi)置比較器設(shè)置●可選Handler接口應(yīng)用●PTC熱敏電阻的測試更多細(xì)節(jié)宣傳資料



