北京金德3D物位掃描儀的詳細(xì)信息

• 電源：(V)
• 度：——(cm)
• 環(huán)境溫度：——(℃)
• 重量：(kg)
• 外形尺寸：**(mm)
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• 顏色：

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JD3D 3D物位掃描儀 北京金德創(chuàng)業(yè)測控技術(shù)有限公司 以色列APM公司中國地區(qū)授權(quán)總代理。產(chǎn)品概述
北京金德APM-JD3D物位掃描儀是迄今為止可實際投入工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用僅有的一種可以準(zhǔn)確檢測固體物料和體積的創(chuàng)新和成熟技術(shù)，而且不受物料種類，物化性能，貯存物料間，開放倉或料倉的類型和尺寸的影響并適用于惡劣的物料貯存環(huán)境。APM-JD3D物位掃描儀利用三個信號傳送器發(fā)射低頻脈沖，并接受來自筒倉，開放倉或者其它料位倉內(nèi)物料表面的脈沖回波。通過使用三個喇叭狀天線，設(shè)備不僅能夠監(jiān)測到每個回波的時間/距離，還能監(jiān)測到回波的方向。該設(shè)備的數(shù)字信號處理器對接收到的信號進(jìn)行取樣和分析，非常準(zhǔn)確的監(jiān)測出物料的物位、體積和質(zhì)量，生成料倉內(nèi)物料的實際分布狀況的三維立體圖像，并在遠(yuǎn)程電腦上顯示出來。APM-JD3D物位掃描儀實際上可以監(jiān)測儲存在各種料倉包括筒倉，大型開放倉，固體物料儲存室，堆場和倉庫中的各種散狀固體物料，標(biāo)出料倉內(nèi)的物料物位以及繪制出物料隨時變化而隨機(jī)形成的不規(guī)則表面形狀，計算出物料的實際體積，使物位監(jiān)測水平達(dá)到了新的高度，從而可以提供方案解決目前技術(shù)無法解決的問題。APM-JD3D物位掃描儀儀所發(fā)出的低頻聲波可穿透懸浮的粉塵，而不像其他技術(shù)非常惡劣環(huán)境下測量時會存在“疑惑”的信號。聲波信號含有的自潔功能可防止材料黏附在料位計設(shè)備的內(nèi)表面，從而保證在任何惡劣的環(huán)境下以非常低的維護(hù)量進(jìn)行長期可靠的工作。工作原理
APM-JD3D物位掃描儀基于二維數(shù)組波束形成器傳送低頻脈沖，接收來自筒倉、倉室或其他容室內(nèi)物料的回波。設(shè)備的數(shù)字信號處理器對接收到的信號進(jìn)行取樣和分析，通過估算回波到達(dá)的時間和方向，處理器形成一個物料表面的三維圖，這個圖像通過一種專有的計算方法對信息進(jìn)行處理并生成3D圖象，可以在遠(yuǎn)端屏幕上顯示出來. 設(shè)備可以據(jù)此準(zhǔn)確得出物料的體積和質(zhì)量，夠使工藝物位監(jiān)測和庫存控制達(dá)到一個新的高度。的物料檢測能夠提高操作效率和管理能力，高成本突發(fā)狀況減少，加快收益回饋。

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產(chǎn)品系列
APM-JD3D體積物位掃描儀現(xiàn)有五個型號供用戶選擇
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3DLevelScanner S1檢測儲存物料的平均體積。基于15度波束角，穿透一般濃度粉塵，適用于狹窄料倉，高度（至70m）的小型倉的理想選擇。

3DLevelScanner S2檢測儲存物料的平均體積?；?0度波束角，S型是檢測直徑為4m以下，高度（至70m）的小型倉的理想選擇。

APM-JD3DLevelScanner M 提供非常準(zhǔn)確的物位和體積值，適用于大型（高度和直徑達(dá)70m）的筒倉，開放倉等。
APM-JD3DLevelScanner MV 與M型相同，但增加了特殊的軟件工具，可以在遠(yuǎn)程電腦上顯示出倉內(nèi)物料的3D圖像，這項特點用于標(biāo)出及繪制物料隨時間變化的隨機(jī)形狀和不規(guī)則體積。
APM-JD3DLevelScanner MVL2系統(tǒng)由2個或4個體積物位掃描儀組成，他們能以測量區(qū)域為原則進(jìn)行安裝，并能增強(qiáng)單個體積物位掃描儀的體積測量。APM-JD3D物位掃描儀的優(yōu)點
替代并超越雷達(dá)物位計或超聲波物位計的革命性突破；
真正的立體三維成像，過程自動化的產(chǎn)品；
物位在線檢測不再是單點檢測模式，而是多點高檢測并全面考慮物料表面的變化形態(tài)。
實現(xiàn)連續(xù)檢測筒倉或開放式倉室內(nèi)物料的物位、體積以及質(zhì)量的產(chǎn)品；
APM-JD3D圖像形式顯示的創(chuàng)新型設(shè)備；
掃描粉料的表面（成百上千個網(wǎng)格點）無論物料表面如何不規(guī)則，測量的是多點的平均值；
掃描粉體表面，可以在DCS對粉體表面3維成像，從而獲得筒倉內(nèi)盛裝的粉體體積數(shù)據(jù)；
APM-JD3D物位掃描儀的高濃度粉塵透射技術(shù)，低頻脈沖波技術(shù)非接觸式測量；
無移動部件，無腐蝕風(fēng)險，因此更適合用于水泥，鋼鐵、食品、化學(xué)品和藥品等；可檢測粉末，粒狀料，丸裝料以及其他固體物料，無需特殊校準(zhǔn)；可用于高型簡倉---檢測范圍可達(dá)70m；
成本效益高；
3個獨立發(fā)射器確保檢測準(zhǔn)確可靠；
初始安裝過程中遠(yuǎn)程連接我方客戶支持工程師，以實現(xiàn)特定現(xiàn)場掃描儀能夠自定義至性能配置。?各種料位測量儀表的比較
超聲波物位計
優(yōu)點：非接觸
局限：粉塵影響/凹凸面影響非接觸式雷達(dá)料位計
優(yōu)點：非接觸
局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響導(dǎo)波雷達(dá)物位計
優(yōu)點：對某個點的測量
局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響激光物位計
優(yōu)點：非接觸
局限：粉塵影響/凹凸面影響射頻導(dǎo)納料位計
優(yōu)點：點接觸
局限：介電常數(shù)有要求/時漂/溫漂/掛料/拉力重錘式料位計
優(yōu)點：直接測量/手動控制
局限：埋錘/亂繩r射線式料位計
優(yōu)點：非接觸、穩(wěn)定
局限：有污染稱重式料位計
優(yōu)點：可以測量質(zhì)量/體積
局限：抗震問題/物料面狀況不知/價格高?APM-JD3D物位掃描儀三維影像
1、這一獨特的技術(shù)可以測量儲存在各種容器中的任何原料，包括筒倉、大型開放式儲存地、散裝物料儲存室、貨堆和倉庫。它可以映射出物料隨機(jī)而產(chǎn)生的堆積形狀和不規(guī)則性，從而為目前和其他先前無法進(jìn)入的挑戰(zhàn)性應(yīng)用領(lǐng)域提供了解決方案。
2、存儲物的三維圖像能夠顯示在遠(yuǎn)程計算機(jī)屏幕上。
3、液晶顯示。
4、一鍵操作，輕松導(dǎo)航。?3D物位掃描儀的應(yīng)用行業(yè)
水泥及混凝料-生料、熟料倉、煤倉等,鋼鐵-原料倉、煤倉、礦石倉等,焦化,電力-煤倉、灰倉或粉煤灰,紙漿和造紙,石油化工,采礦,冶金,有色冶煉,食品加工,谷物、種子和飼料,骨料工業(yè),化工加工,生物能源,塑料生產(chǎn),制藥產(chǎn)業(yè),環(huán)境與回收工業(yè),水和廢水處理工業(yè)等。