介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀：GDAT-A
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
    
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀的詳細(xì)資料：
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻測試。它以單片計算機(jī)作為儀器的控制，測量采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動設(shè)定，諧振點(diǎn)自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻等。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀的技術(shù)指標(biāo)
  1．Q值測量
   a．Q值測量范圍：2～1023。
   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
 c．標(biāo)稱誤差
項    目
GDAT-A
頻率范圍
20kHz～10MHz；
固有誤差
≤5％±滿度值的2％；
工作誤差
≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍
10MHz～60MHz；
固有誤差
≤6％±滿度值的2％；
工作誤差
≤8％±滿度值的2％。
2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H

3．介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀電容測量：1~ 460
項    目
GDAT-A
直接測量范圍
1～460pF
主電容調(diào)節(jié)范圍
準(zhǔn)確度
30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
   注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
   4．介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍
項     目
GDAT-A
頻率范圍
10kHz～50MHz
頻率分段
(虛擬)
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz    
頻率指示誤差
3×10-5±1個字
   5．Q合格指示預(yù)置功能
      預(yù)置范圍：5～1000。
   6．Q表正常工作條件
   a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；                    
b．相對濕度：<80％； 
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
   7．其他
   a．消耗功率：約25W； 
b．凈重：約7kg； 
c. 外型尺寸：(l×b×h)mm：380×132×280。
   8．產(chǎn)品配置：
a.測試主機(jī)一臺；
b.電感9只；
c.夾具一套  
電感：
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值 
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
            
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH
 
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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器：

按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測試頻率時，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn)： 

◎ 本公司的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值8nH，100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。信號   源輸出口，所以本機(jī)又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。

緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。

同樣，由測微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化，通過公式計算得到介電常數(shù)。

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz    四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍：40～500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置：