- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：深圳
EXF8000S光譜貴金屬分析儀使用高效而實用的正比計數盒探測器，以之前的EXF7800價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。
光譜貴金屬檢測儀性能特點
貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
技術指標
元素分析范圍：從鉀（Na）到鈾（U）。
測量對象：固體、粉末
分析檢出限可達：1000ppm。
測試：±1000ppm～0.2%。
多次測量重復性可達：0.1％。
長期工作穩定性為：0.1％。
測金機標準配置
單樣品腔。
正比計數盒探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 450×660×285mm
重量：35kg
整體設計
集成工業計算機在設備機箱內，無需外接計算機
西凡光譜儀應用領域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
售后服務
全國范圍內送貨上門，上門安裝、培訓，產品嚴格實行國家儀器儀表"三包"：一年保修，三個月包換，終生維護，接到報修電話一小時內響應。
