儀器簡介：
具采用的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng)和OPI水平觀測等離子光學(xué)接口
完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)，
有高靈敏度、高以及波長范圍寬（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES 領(lǐng)域
開拓了全新的應(yīng)用，可分析包括ppm級鹵素在內(nèi)的73個金屬和非金屬元素。
技術(shù)參數(shù)：
革命性的全新設(shè)計，真正的全譜直讀??！
1.光譜范圍130－770nm
2.三光柵:3600線/mm(2個),1800線/mm(1個)
3.動態(tài)范圍大于等于8個數(shù)量級
4.可在30秒內(nèi)完成73個元素的全譜定量測試，分析速度:>=60個樣品/小時
5.短積分時間0.1ms,可與HPLC/GC聯(lián)機(jī)使用
主要特點：
0.可以測鹵素的ICP
1.一維色散＋32個CCD檢測器設(shè)計，檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護(hù)
2.全波長覆蓋，為130－770nm的波長范圍，可以分析ppm級鹵素
3.密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng)，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃
4.3秒實現(xiàn)真正全譜數(shù)據(jù)采集，分析速度快
5.所有氣體流量采用質(zhì)量流量計計算機(jī)控制，矩管位置3維步進(jìn)馬達(dá)計算機(jī)控制自動化程度高
具采用的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng)和OPI水平觀測等離子光學(xué)接口
完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)，
有高靈敏度、高以及波長范圍寬（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES 領(lǐng)域
開拓了全新的應(yīng)用，可分析包括ppm級鹵素在內(nèi)的73個金屬和非金屬元素。
技術(shù)參數(shù)：
革命性的全新設(shè)計，真正的全譜直讀??！
1.光譜范圍130－770nm
2.三光柵:3600線/mm(2個),1800線/mm(1個)
3.動態(tài)范圍大于等于8個數(shù)量級
4.可在30秒內(nèi)完成73個元素的全譜定量測試，分析速度:>=60個樣品/小時
5.短積分時間0.1ms,可與HPLC/GC聯(lián)機(jī)使用
主要特點：
0.可以測鹵素的ICP
1.一維色散＋32個CCD檢測器設(shè)計，檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護(hù)
2.全波長覆蓋，為130－770nm的波長范圍，可以分析ppm級鹵素
3.密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng)，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃
4.3秒實現(xiàn)真正全譜數(shù)據(jù)采集，分析速度快
5.所有氣體流量采用質(zhì)量流量計計算機(jī)控制，矩管位置3維步進(jìn)馬達(dá)計算機(jī)控制自動化程度高
