SIDSP探頭

探頭

F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5

F2

F5，N2.5，F(xiàn)N5

F15

特性

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）

度

±（1μm+0.75%讀值）

±（1.5μm+0.75%讀值）

±（5μm+0.75%讀值）

重復(fù)性

±（0.5μm+0.5%讀值）

±（0.8μm+0.5%讀值）

±（2.5μm+0.5%讀值）

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半徑（凸）

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半徑（凹，外置探頭）

7.5mm

10mm

25mm

小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）

30mm

30mm

30mm

小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下測量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)

主機(jī)

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

多10,000個(gè)

多10,000個(gè)

多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù)，小值，值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）

校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過極限

測量單位

um，mm，cm；mils，inch，thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0（紅外接口）

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g（內(nèi)置）/230g（外置）