- 品牌/商標：賽凡光電
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：北京
特點
- 一體化樣品臺技術(shù)，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品
- 新型樣品調(diào)節(jié)技術(shù)，有效提高樣品定位
- 獨特的噪聲處理方法，顯著增強信噪比
- 新型光電增強技術(shù)，顯著降低生產(chǎn)現(xiàn)場噪聲對結(jié)果的影響
- 現(xiàn)場供電檢測和調(diào)節(jié)功能，適應(yīng)更加復(fù)雜的供電環(huán)境
- 多種測量模式選擇，適合對不同要求的場合
- 多線程軟件結(jié)構(gòu)，提高用戶體驗
應(yīng)用領(lǐng)域
絨面單晶、多晶及各種薄膜太陽電池上納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k測量，尤其適合太陽電池生產(chǎn)線上的現(xiàn)場檢測。同時可用于納米薄膜樣品的生產(chǎn)工藝研究以及實驗室中的科研使用，應(yīng)用領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、集成電路、微電子、光學(xué)薄膜、醫(yī)學(xué)與生命科學(xué)、電化學(xué)、平板顯示領(lǐng)域、磁介質(zhì)存儲、聚合物和金屬處理等。
技術(shù)指標
激光波長 | 632.8nm (He-Ne laser) |
膜層厚度 | 0.01nm (對于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
折射率 | 1x10-4 (對于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
光學(xué)結(jié)構(gòu) | PSCA |
激光光束直徑 | < |
入射角度 | 40°-90°可選，步進5° |
樣品方位調(diào)整 |
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樣品臺尺寸 | 兼容125* |
單次測量時間 | 0.2s |
推薦測量范圍 | 0-6000nm |
外形尺寸(長x寬x高) | 991 x 332 x |
儀器重量（凈重） |
測試曲線