PCB線路的特征阻抗由線路尺寸和PCB材料特性決定——可能每一批都不一樣。為了控制線路阻抗，PCB制造商通常要改變線路寬度，補(bǔ)償不同批次的PCB材料存在的差異。過去要用時(shí)域反射儀(TDR)等實(shí)驗(yàn)室設(shè)備測量在電路板或試樣上蝕刻出來的典型線路的特性。這種方法很復(fù)雜，成本很高，不適合在生產(chǎn)環(huán)境下使用。

        如今許多電子設(shè)計(jì)師（尤其是那些國防/航天、通信和IT行業(yè)挑戰(zhàn)性能極限的設(shè)計(jì)師）正在努力讓控制阻抗PCB技術(shù)大步向前買進(jìn)，他們用差分信號和平衡線路提高抗擾度，減少高速互連裝置定時(shí)錯(cuò)誤。對于為這些快速增長的電子行業(yè)服務(wù)的PCB制造商來說，現(xiàn)在很容易確定這些平衡線路的差分阻抗。

易于使用

       CITS阻抗測試系統(tǒng)使用起來極為簡單方便?；赪indows的強(qiáng)大軟件使所有測試任務(wù)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，單擊一下鼠標(biāo)或踩一下腳踏開關(guān)即可控制整個(gè)過程。你只需確定微帶測試探針的位置，選擇一個(gè)包含常規(guī)PCB測試阻抗和公差的測試文件，然后踩腳踏開關(guān)即可。不需要像復(fù)雜的TDR測量那樣進(jìn)行任何調(diào)節(jié)，例如設(shè)置垂直增益值、脈沖延時(shí)值和時(shí)基值。未取得產(chǎn)能，CITS可以自動(dòng)執(zhí)行一系列阻抗測試，必要時(shí)提示你重新確定測試探針的位置。

       測試結(jié)果一目了然 — CITS自動(dòng)處理數(shù)據(jù)，清楚顯示隨距離而變的特征阻抗，給出通過/失敗狀態(tài)。自動(dòng)數(shù)據(jù)記錄功能讓你能夠?qū)y試結(jié)果（連同系統(tǒng)設(shè)置數(shù)據(jù)和測量標(biāo)準(zhǔn)）導(dǎo)出到多種第三方數(shù)據(jù)庫或電子表格軟件包，進(jìn)行實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)過程控制。還可以通過儀器背板上的光隔離信號使用每次測試的通過/失敗狀態(tài)，便于與其他工廠自動(dòng)化設(shè)備集成在一起。

可跟蹤測量活動(dòng)

      可跟蹤測量進(jìn)一步完善了CITS操作上的簡單方便性。此外，QA可任意指定復(fù)雜的測量參數(shù)，例如傳播速度和損耗補(bǔ)償，以及通過/失敗限值、結(jié)果處理和數(shù)據(jù)記錄等標(biāo)準(zhǔn)測試功能。

       你可以打印測試結(jié)果，以便給客戶提供合規(guī)，將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在磁盤上供歸檔或進(jìn)一步分析之用，或者導(dǎo)出數(shù)據(jù)供實(shí)時(shí)SPC之用。選購數(shù)據(jù)記錄生成器(DRG)支持多種標(biāo)準(zhǔn)表單，用于簡化操作。作為選購項(xiàng)目，還可供應(yīng)條形碼閱讀器，它讓你能夠在測試過程中掃描PCB識別標(biāo)簽，從而縮短處理時(shí)間，根除錯(cuò)誤。

設(shè)計(jì)與過程控制

       在考慮開始阻抗控制生產(chǎn)時(shí)，你還會(huì)發(fā)現(xiàn)PolarSi8000m控制阻抗設(shè)計(jì)系統(tǒng)有助你根據(jù)自己的生產(chǎn)工藝定制客戶設(shè)計(jì)。還有助于一線團(tuán)隊(duì)優(yōu)化輸入數(shù)據(jù)，限度地提高控制阻抗PCB產(chǎn)量。 利用CITS和Si8000m，將你你帶來一套完整的阻抗測試與過程控制解決方案。
自動(dòng)生成測試計(jì)劃

        Speedstack多層電路板設(shè)計(jì)軟件可以根據(jù)控制阻抗層疊，直接導(dǎo)出CITS900s4測試計(jì)劃。