該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻領(lǐng)域的紫外曝輻量和輻照度測(cè)量。 主要性能和技術(shù)指標(biāo) 1.波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)： UV-365探頭： 320—400nm 峰值波長(zhǎng)365nm UV-420探頭： 375—475nm 峰值波長(zhǎng)420nm 2.測(cè)量范圍： 曝輻量：0.1 — mJ/cm2 輻照度：0.1 — 300.0 mW/cm2 3.紫外帶外區(qū)雜光： 小于0.02% 4.余弦特性： 符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn) 5.準(zhǔn)確度：±5% (相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)) 6.響應(yīng)時(shí)間：＜0.1s 7.使用環(huán)境： 溫度20±20℃；濕度 ＜85% 8.尺寸和重量： Φ136mm×17mm ；0.5 Kg 9.電源： 3.7V鋰離子手機(jī)電池
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