產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 專為紫外輻射照度測(cè)試而設(shè)計(jì)，滿足各項(xiàng)國(guó)際和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)。該儀器具有高，穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)，已被廣泛應(yīng)用于紫外光源、印刷、、衛(wèi)生、生物生長(zhǎng)、驗(yàn)鈔、等行業(yè)。用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同波段探測(cè)器，從而實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試要求。高靈敏度UV探頭可為客戶訂制。 技術(shù)特性: 測(cè)量范圍寬：0.01～1.9999×105μW/平方厘米 or mW/平方米 測(cè)量：±5%(相對(duì)于計(jì)量院NIM量傳標(biāo)準(zhǔn)或CIE探測(cè)器相對(duì)于美國(guó)NIST量傳標(biāo)準(zhǔn)) 多量程，量程自動(dòng)切換 用戶定標(biāo)及校功能 RS-232串行通訊功能 用戶根據(jù)要求選擇合適波段探測(cè)器，滿足國(guó)際和國(guó)內(nèi)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求： CIE UVA(315nm～400nm) CIE UVB(280nm～315nm) CIE UVC(220nm～280nm) CIE UVBC(185nm～315nm) CIE UVBC1(160nm～315nm) UVAO(375nm～475nm) UV365(λp=365nm) UV310(λp=310nm) UV297(λp=297nm) UV254(λp=254nm)