特點(diǎn)
- 型號儀器，具有常見的功能
- 射線激發(fā)量的靈，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
- 通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的信號量下也可以正常工作，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低
- 低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
- 帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量設(shè)備
- 大容量便于操作的測量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 測量薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
- 痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
- 進(jìn)行高的黃金和貴金屬分析
- 光伏產(chǎn)業(yè)
- 測量 NiP 鍍層的厚度和成分
