CST-50沖擊試樣缺口投影儀
技術(shù)協(xié)議
　　

一、產(chǎn)品綜述
概述
　　　該儀器是于檢測沖擊試樣V、U型缺口的精密檢測儀器。儀器光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量優(yōu)良，物鏡成像清晰，放大倍率準(zhǔn)確，是材料沖擊試驗不可少的光學(xué)檢測儀器
　　　隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比V型缺口沖擊試驗方法，  日前國內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。
　　　對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品或報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。目前用光學(xué)投影放大檢查是切實可行并能檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
原理
　　　本投影儀發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影屏幕上。根據(jù)實際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方向一致。
（三）產(chǎn)品特點
　　該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口與標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前切實可行、并能檢查質(zhì)量的沖擊試樣缺口檢查方法，是相關(guān)理化試驗室的備儀器。
（四）適用行業(yè)
　　　本投影儀是廣大冶金、鍋爐壓力容器、車船和工程機(jī)械制及科研等部門理化實驗室的備設(shè)備。
　　　該儀器還可用于機(jī)械部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗、儀表元件和半導(dǎo)體元件的投影檢測。
二、技術(shù)參數(shù)
1、 放大倍數(shù)：50×；
2、 投影屏直徑：180mm；
3、 工作臺尺寸：
　　　方工作臺：110×125mm
　　　圓工作臺：90mm
　　　工作臺玻璃直徑：70 mm
 工作臺行程：縱向：10 mm；  橫向：10 mm；   升降：12 mm（無刻度）
 工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0 — 360°
 儀器放大倍率：50×
　物鏡放大倍率：2.5×
　投影物鏡放大倍率：20×
 光源（鹵鎢燈）：12V/100W
 電源：220V/50Hz
 外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
重量：約18kg
  準(zhǔn)樣板圖類型 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 備注
2mm V U型缺口 GB/T 229-2007
EN 10045.1-1990
ASTM E23-2002a 標(biāo)準(zhǔn)樣板圖的缺口尺寸與偏差應(yīng)滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
三、標(biāo)準(zhǔn)配置
　1、 底座調(diào)整鈕：四個
　2、 電源線：一根
　3、 鹵鎢燈：二個
　4、 平玻璃板：一塊
四、質(zhì)量
           設(shè)備三包期為正式交貨之日起一年。在三包期內(nèi)，供貨方對設(shè)備出現(xiàn)各類故障及時維修服務(wù)。對非人為造成的各類件損壞，及時更換。保修期外設(shè)備在使用過程中發(fā)生故障，供貨方及時到訂貨方服務(wù)，積協(xié)助訂貨方完成維修任務(wù)。
　　　五、交貨期
　　　　供方現(xiàn)貨供應(yīng)