三維探針臺(tái)是海格威自動(dòng)化設(shè)備有限公司自主生產(chǎn)的微型壓電線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的三維探針臺(tái)，該探針臺(tái)具有結(jié)構(gòu)緊湊、高、多功能、響應(yīng)迅速及高性價(jià)比的特點(diǎn)，是實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)檢測(cè)設(shè)備的選擇。該探針臺(tái)采用了模塊化設(shè)計(jì)的理念，可以十分方便地組合成各種探針檢測(cè)設(shè)備，旨在滿足各種諸如單切晶片、4’’以下晶圓、LED 芯片、模塊、印刷電路板組件和微流體芯片等多種器件的精密電測(cè)量的需要。該三維探針臺(tái)配備專門的3 軸霍爾控制元件，可在觀測(cè)的時(shí)候同時(shí)進(jìn)行靈活和精準(zhǔn)的操作。同時(shí)具備十分優(yōu)良的可擴(kuò)展性，可根據(jù)需要選配各種不同部件進(jìn)行功能上的升級(jí)。
應(yīng)用領(lǐng)域：
晶圓測(cè)試、 射頻測(cè)試、LED 測(cè)試、 高溫環(huán)境測(cè)試、功率器件測(cè)試、 低溫真空測(cè)試、MEMS 測(cè)試、 低電流（fA）測(cè)試、PCB 測(cè)試、 I-v/c-v/p-iv 測(cè)試、液晶面板測(cè)試、 高壓，大電流測(cè)試、太陽(yáng)能電池片測(cè)試、 特殊氣體環(huán)境測(cè)試、材料表面電阻測(cè)試、 強(qiáng)磁環(huán)境測(cè)試、納米器件測(cè)試、 輻射環(huán)境測(cè)試
可選配件：
1、光柵閉環(huán)系統(tǒng)
2、不同規(guī)格探針
3、壓電超精密 XY 軸樣品載物臺(tái)或手動(dòng)XY 樣品載物臺(tái)
4、不同規(guī)格顯微觀察系統(tǒng)及顯微鏡萬(wàn)向連接裝置
5、可定制不同規(guī)格尺寸安裝底座及連接底板
6、真空吸附型卡盤（不銹鋼、黃銅材質(zhì)可選）
7、積分球夾具
8、視頻 CCD 系統(tǒng)
9、封裝器件夾具
10、PCB 板夾具
11、樣品加熱系統(tǒng)
12、光學(xué)隔振平臺(tái)
13、屏蔽箱
14、強(qiáng)磁場(chǎng)及高真空度使用請(qǐng)直接咨詢廠商以獲得更加詳細(xì)的信息
應(yīng)用領(lǐng)域：
晶圓測(cè)試、 射頻測(cè)試、LED 測(cè)試、 高溫環(huán)境測(cè)試、功率器件測(cè)試、 低溫真空測(cè)試、MEMS 測(cè)試、 低電流（fA）測(cè)試、PCB 測(cè)試、 I-v/c-v/p-iv 測(cè)試、液晶面板測(cè)試、 高壓，大電流測(cè)試、太陽(yáng)能電池片測(cè)試、 特殊氣體環(huán)境測(cè)試、材料表面電阻測(cè)試、 強(qiáng)磁環(huán)境測(cè)試、納米器件測(cè)試、 輻射環(huán)境測(cè)試
可選配件：
1、光柵閉環(huán)系統(tǒng)
2、不同規(guī)格探針
3、壓電超精密 XY 軸樣品載物臺(tái)或手動(dòng)XY 樣品載物臺(tái)
4、不同規(guī)格顯微觀察系統(tǒng)及顯微鏡萬(wàn)向連接裝置
5、可定制不同規(guī)格尺寸安裝底座及連接底板
6、真空吸附型卡盤（不銹鋼、黃銅材質(zhì)可選）
7、積分球夾具
8、視頻 CCD 系統(tǒng)
9、封裝器件夾具
10、PCB 板夾具
11、樣品加熱系統(tǒng)
12、光學(xué)隔振平臺(tái)
13、屏蔽箱
14、強(qiáng)磁場(chǎng)及高真空度使用請(qǐng)直接咨詢廠商以獲得更加詳細(xì)的信息
