*顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）； *CIE顏色測定 X Y色度圖，x，y，L,a,b飽和度，主波長等； *檢測速度快 探測器，可在1秒內時間重現性高的測定； *消除背面反射光 無需進行背面反射處理即可快速準確地測定表面反射率
| 型號 | BCSP（II型） | BCSP（III型） |
| 檢測范圍 | 380~880nm | 380~1100nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm |
| 相對檢測誤差 | ﹤1% | ﹤1% |
| 測定方法 | 與標準物比較測定 | |
| 被測物再現性 | ±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) | ±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~1000nm) |
| 單次測量時間 | ﹤1s | |
| 0.3nm | ||
| 被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) | |
| 被測物尺寸 | 直徑>1mm厚度>1mm(使用10×對物鏡時)厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時) | |
| 被測物測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時) | |
| 設備重量 | 約30kg（光源外置） | |
| 設備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |
| 使用環境 | 水平且無振動的場所溫度：23±5℃ 濕度：60％以下、無結露 | |
| 操作系統 | Windows XP, Windows Vista，Win7 | |
| 軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定 | |
