產(chǎn)品型號(hào)：

三維光學(xué)密集點(diǎn)云測量機(jī)POS-Ⅰ

產(chǎn)品介紹    采用國際先進(jìn)的外差式多相頻相移三維光學(xué)測量技術(shù)，達(dá)到國際先進(jìn)技術(shù)水平。與傳統(tǒng)的格雷碼加相移方法相比，測量更高，單次測量幅面更大（130mm到2米）、抗干擾能力強(qiáng)、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件。 產(chǎn)品特點(diǎn) 1、一機(jī)多用，可同時(shí)掃描測量小型、中型、大型工件。
2、面掃描測量數(shù)據(jù)密集。
3、便攜式流動(dòng)測量。
4、強(qiáng)大的自動(dòng)拼接。
5、測量掃描速度快。
6、激光指示器測距。
技術(shù)參數(shù) 　

具體型號(hào)	POS-Ⅰ
工業(yè)相機(jī)	兩個(gè)130萬像素
單幅面（mm）	130*100-400*300
檢測范圍	5mm-90m

應(yīng)用領(lǐng)域 POS三維光學(xué)密集點(diǎn)云測量系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于汽車工業(yè)、飛機(jī)工業(yè)、機(jī)械制造、模具設(shè)計(jì)、家電等制造行業(yè)的逆向設(shè)計(jì)、產(chǎn)品質(zhì)量檢測、尺寸檢測、變形分析。