產品型號：

ValidatorⅢ

·產品介紹    第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，采用世界上先進的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數的準確性，重復性。 ·產品特點 1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由
此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素
的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量
值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
·技術參數 　

分析原理			能量色散X射線熒光分析法
分析元素			Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高型）
			Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限			Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀			460×380mm(高150mm)
樣品			塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體
樣品室氣氛			大氣
X射線管	靶材		Rh
	管電壓		50KV
	管電流		1mA
X射線照射徑			1/3/5mm
防護			＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕）
檢測器			硅SIPIN探測器
光學圖像觀察			倍率15倍
軟件			定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）
			照射徑：1/3/5mm
			定量分析：基礎參數法/標準法/1點校正
計算機		CPU	PentiumIV1.8GHz以上
		內存	256MB以上
		硬盤	20GB以上
		OS	WindowXP
監視器			17寸LCD
周圍溫度			10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）
周圍濕度			5～31。C時溫度范圍：相對濕度80%以下 /31～40。C時溫度范圍：相對濕度50%以下
電源			AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力			1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機）
設備重量			約65kg(不含桌子、計算機）
外形寸法			600（W）×545（D）×435（H）mm