M370是一個模塊化的系統，可實現當今微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試：
- 掃描電化學顯微鏡(SECM)
- 掃描振動電測試(SVET)
- 掃描開爾文(Kelvin)探針測試(SKP)
- 微區電化學阻測試(LEIS)
- 掃描電解液微滴測試(SDS)
- 非觸式微區形貌測試(OSP)
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