HX型非接觸溫度計是我公司結合德國技術，根據半導體單晶硅的現場實際應用研發的一款單晶爐使用的紅外測溫產品。具有跟蹤速度快，靈敏度高，測量是不破壞被測物的溫度分布，可測較小目標等特點。尤其是用于對高溫，快速移動，旋轉等物體的測量和控制。其性，穩定性及性價比了用戶的。
   HX型紅外溫度計是一種基于紅外輻射原理的非接觸式測量儀表，他能進入測量視場內的波段紅外輻射能量量化，并相的轉化為可以識別和利用的電信號。由于晶體的生長直徑和生長長度可通過調整旋轉速度和提拉速度來控制，穩定的溫度是硅晶棒均勻生長的重要因素，HX-T2型紅外溫度計解決了硅晶體生長過程中的品質控制和直徑控制問題。如果對信號進行放大和線性處理，還可以進行閉環控制。HX-T3型單晶爐紅外溫度計自面世以來體憑借其突出的性能，在單晶爐行業得到廣泛的應用。
 
技術參數
型號     HX系列
波長范圍     0.8~1.4um
測溫范圍     600~2500℃
小目標 Ф20~ф10
測量 &plun;1℅
重復 25℃時為讀數值的&plun;0.3℅
響應時間 <1S
測量距離 標準透鏡：0.2~2M  近距透鏡 ：0.1~0.5M
輸出信號 4-20MA
濕度 ≦85℅RH
環境溫度     -18~60℃帶水冷可到150℃