X熒光光譜儀

型號：EDX4500H 

EDX 4500H X熒光光譜儀是繼EDX1800B和EDX3600H之后更的增強型光譜儀，利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

窗X光管，指標國際水平新的數字多道技術，讓測試更快，計數率100000CPS，更高。

在合金檢測中效果更好SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE），信號處理能力25

X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍自動穩譜裝置了儀器工作的一致性

高信噪比的電子線路單元針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的抑制內置高清晰攝像頭液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數

產品型號：EDX 4500

產品名稱：X熒光光譜儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：性可測幾十種元素

分析：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩定性）

測量時間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145&plun;5eV管壓：5KV-50KV管流：50μA-1000μA

測量對象狀態：粉末、固體、

液體輸入電壓：AC 110V/220V

環境溫度：15℃-30℃

環境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標準配置

窗X光管SDD硅漂移探測器數字多道技術信噪比增強器 

SNE光路增強系統高信噪比電子線路單元

內置高清晰攝像頭自動切換型準直器和濾光片自動穩譜裝置三重保護模式

的整體鋼架結構90mm×70mm的狀態顯示液晶屏真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）