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　　Windows Mobile5.0操作系統(tǒng)
　　開機(jī)后不需校準(zhǔn)就可直接測量
　　采用布魯克技術(shù)的XFlash？SDD檢測器
　　分析元素小從Mg開始，達(dá)40多種。
　　分析范圍：ppm級(jí)至50%以上(與礦樣種類有關(guān))
　　實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
　　XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣
　　測量，不受樣品形狀限制
　　儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，自動(dòng)存儲(chǔ)測量數(shù)據(jù)，無需人工干預(yù)
　　主機(jī)一體化設(shè)計(jì)，度密封，水、塵，沖擊
　　可選擇一鍵式定時(shí)測量
　　內(nèi)置Bruker操作軟件，計(jì)算和顯示速度快
　　儀器適應(yīng)高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
　　在開機(jī)狀態(tài)下長時(shí)間不測量時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護(hù)儀器
　　X射線管耐用，采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
　　選配GPS定位系統(tǒng)，可定位礦置并繪制礦脈分布圖
　　FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現(xiàn)場工作時(shí)間。自動(dòng)補(bǔ)償元素間干擾。
　　軟件升級(jí)