天瑞新型X熒光貴金屬分析儀EDX 3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準確、快速、、直觀及五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果合國標GB-1887《飾貴金屬純度的規定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬飾含量的檢測方法X射線熒光譜法》的要求。

性能特點

三重保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
任意多個可選擇的分析和識別模型
高信噪比的電子線路單元
全元素測試X熒光分析軟件
與傳統儀器相比，新增加的抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的版圖
采用世界上的SDD硅漂移探測器，分辨率至139ev，更好的檢測鉑金中銥和金的含量
提供多種準直器，直徑小達0.2mm，輕松實現精小部位的測試
精選優質組件
真空腔
在分析低含量的輕元素時，須使用真空泵設備把空氣抽出，使內部在真空狀態下對輕元素進行分析。
真空泵（選配）
限真空：6×10-2 帕轉速：1400 轉/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦

技術指標

測量元素范圍：從硫（S）至鈾（U）
測量對象狀態：粉末、固體、液體
同時分析元素：24種元素同時分析
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%
能量分辨率為：140&plun;5ev
分析：0.05%（96%）以上
測量時間：60s-200s（可調）
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
環境溫度：10℃-30℃
環境濕度：35%-70%
輸入電壓：AC 10V/20V
管壓：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
樣品腔尺寸：334×500×80mm
外觀尺寸：670×533×85 mm
重量：80kg

標準配置

美國Amptek原裝SDD探測器
數字多道分析器
放大電路、高低壓電源、X光管
計算機、打印機、真空泵（選配）、穩壓電源（選配）
軟件：貴金屬分析軟件（標配）、鍍層分析軟件（選配）、有害元素分析軟件（選配）

應用領域

黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶飾中輕元素的檢測。
分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等