該儀器已獲，號.3.
產品介紹：
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度（△T）隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。
技術參數：
1.溫度范圍：室溫~1150℃
2.量程范圍：0～±2000μV
3.DTA：±0.1μV
4.升溫速率：1～80℃/min
5.溫度分辨率：0.1℃
6.溫度準確度：±0.1℃
7.溫度重復性：±0.1℃
8.溫度控制：升溫：程序控制可根據需要進行參數的調整
降溫：風冷程序控制可選配半導體冷卻系統、液氮冷卻系統等
恒溫：程序控制恒溫時間任意設定
9.爐體結構：爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，高，易于操作
10.氣氛控制：（選配）氣體流量計，氣氛轉換裝置
11.數據接口：標準U接口配套數據線和操作軟件
12.主機顯示：24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示
13.參數標準：配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫度進行校正
14.基線調整：用戶可通過基線的斜率和截距來調整基線
15.工作電源：AC 220V 50Hz
產品介紹：
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度（△T）隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。
技術參數：
1.溫度范圍：室溫~1150℃
2.量程范圍：0～±2000μV
3.DTA：±0.1μV
4.升溫速率：1～80℃/min
5.溫度分辨率：0.1℃
6.溫度準確度：±0.1℃
7.溫度重復性：±0.1℃
8.溫度控制：升溫：程序控制可根據需要進行參數的調整
降溫：風冷程序控制可選配半導體冷卻系統、液氮冷卻系統等
恒溫：程序控制恒溫時間任意設定
9.爐體結構：爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，高，易于操作
10.氣氛控制：（選配）氣體流量計，氣氛轉換裝置
11.數據接口：標準U接口配套數據線和操作軟件
12.主機顯示：24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示
13.參數標準：配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫度進行校正
14.基線調整：用戶可通過基線的斜率和截距來調整基線
15.工作電源：AC 220V 50Hz
